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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>光譜>其它光譜儀>ScopeX PC3 浪聲X熒光鍍層測(cè)厚儀

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ScopeX PC3 浪聲X熒光鍍層測(cè)厚儀

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蘇州浪聲科學(xué)儀器有限公司成立于2012年,一直致力于研究分析和工業(yè)儀器技術(shù)。伴隨著數(shù)十個(gè)重大創(chuàng)新,公司在以下領(lǐng)域愈加專業(yè)成熟,其中包括薄膜分析(XRF),X射線熒光光譜學(xué)(TXRF、EDXRF),X射線晶體學(xué),X射線衍射(XRD),拉曼光譜學(xué)(RAMAN),電子顯微學(xué)(SEM),激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS),X射線光學(xué)器件,實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化,X射線源。

公司充分利用多年積累的專業(yè)技術(shù)知識(shí),堅(jiān)持以客戶為導(dǎo)向,不斷的創(chuàng)新,為客戶日益復(fù)雜化和多樣化的社會(huì)課題以及需求提供集成的分析解決方案。









合金分析儀、土壤重金屬分析儀、rohs分析儀、鍍層分析儀、礦石分析儀、貴金屬分析儀、油品分析儀、便攜式衍射儀等X射線熒光光譜儀

應(yīng)用領(lǐng)域 電子,綜合

使用優(yōu)勢(shì)

可選配微焦X射線裝置

測(cè)試各類極微小的樣品,即使檢測(cè)面積微小的樣品也可輕松、精準(zhǔn)檢測(cè)。

多準(zhǔn)直器/濾光片

多濾光片和多準(zhǔn)直器可選或軟件自動(dòng)切換組合,使得儀器的多功能性得以顯著提升,以靈活應(yīng)對(duì)不同尺寸的零件。

下照式設(shè)計(jì)

從下往上測(cè)量,無(wú)需額外對(duì)焦,可輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層樣品的高效測(cè)量。

無(wú)損檢測(cè)

X射線熒光是無(wú)損分析過程,不留任何痕跡,即使是對(duì)敏感性材料,其測(cè)量也是非常安全的。

變焦裝置

可對(duì)各種異形凹槽樣品進(jìn)行檢測(cè),凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0~30 mm。

高精度手調(diào)X-Y平臺(tái)

搭載高精度手調(diào)X-Y平臺(tái),最高精度可達(dá)25μm,使微區(qū)測(cè)量更便捷。


應(yīng)用場(chǎng)景


浪聲X熒光鍍層測(cè)厚儀

緊固件


浪聲X熒光鍍層測(cè)厚儀

五金小零件

浪聲X熒光鍍層測(cè)厚儀

珠寶首飾



浪聲X熒光鍍層測(cè)厚儀

汽車零部件





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