FEI Quanta 200 掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品名稱

掃描電子顯微鏡(SEM)

設(shè)備型號(hào)：

FEI Quanta 200 Environmental Scanning Electron Microscope

測(cè)試功能：

1.表面形貌：提供高分辨率的表面形貌圖像，觀察樣品表面的形貌、紋理和形狀。

2.粒度分析：分析樣品中的粒度，包括顆粒的大小、形狀和分布。

3.拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)：顯示樣品拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，如裂紋、凹凸、孔隙。

4.腐蝕和磨損分析：觀察樣品表面的腐蝕、磨損，分析樣品耐磨性。

5.相分布：在多相材料中，SEM可以用于觀察不同相之間的分布和界面。

6.涂層和薄膜分析：分析涂層、薄膜的厚度、均勻性和附著性。

7.半導(dǎo)體器件分析：研究和檢查集成電路、晶體管和其他半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)

艾博納掃描電子顯微鏡（SEM）測(cè)試的樣品要求：

1.樣品尺寸：一般試樣取樣直徑最好在25mm以內(nèi)，最大高度10mm以內(nèi)。

2.ESEM、冷凍及加熱試件因可視范圍之限制，取樣直徑限制在2mm以內(nèi)，最大高度2mm以內(nèi)，底部要平整，試件請(qǐng)自行提前處理。

3.固體樣品保證干燥，并且表面平整和干凈。

4.樣品應(yīng)在高真空環(huán)境下穩(wěn)定，不應(yīng)有顯著的氣體釋放或化學(xué)變化。

5.避免樣品表面有塵埃、油污或其他污染物。