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手動探針臺

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探針臺手動探針臺

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艾博納微納米科技(江蘇)有限公司致力于科研器材的研發(fā)與生產(chǎn),以國際科研單位力量為支點(diǎn),凝聚社會力量共同謀求推動全“人類科學(xué)發(fā)展與進(jìn)步”。艾博納微納米科技(江蘇)有限公司創(chuàng)立于中國江蘇,用戶群體分布于世界各國以及國內(nèi)大陸大部分地區(qū)。公司主營業(yè)務(wù)有物理科研器材、二維材料轉(zhuǎn)移裝置、二維材料微納加工設(shè)備、微納米光學(xué)系統(tǒng)包括遠(yuǎn)場以及近場全波段光學(xué)顯微系統(tǒng)研發(fā)、國產(chǎn)原子力顯微鏡、耗材(包含氮化硼國產(chǎn)高質(zhì)量生長等各種晶體、硅片、超干凈藍(lán)膜膠帶等)、其他二維材料制備相關(guān)設(shè)備如等離子處理儀、顯像設(shè)備等。所有經(jīng)由我司售賣的產(chǎn)品均享受售后保障,用戶可放心購買。



探針臺,二維材料轉(zhuǎn)移臺,金相顯微鏡,步進(jìn)電機(jī),步進(jìn)電機(jī)控制器,原子力顯微鏡,拉曼光譜儀

  產(chǎn)品特點(diǎn)

  1、精確性和控制:手動探針臺可以實現(xiàn)1微米的精確控制,確保在微米尺度上的精確定位。

  2、靈活性:使用時可以手動旋轉(zhuǎn)、上下、左右或傾斜探針或樣品臺,以滿足不同實驗需求,適應(yīng)不同樣品的形狀和大小。

  3、實時反饋:配備顯微鏡和尼康CCD(可見光至中近紅外波段),允許實時觀察探針和樣品的相對位置,確保準(zhǔn)確對準(zhǔn)。

  4、簡單操作:設(shè)計直觀,操作簡單,容易上手。

  5、穩(wěn)定性:結(jié)構(gòu)設(shè)計堅固,采用高質(zhì)量材料制成,測量時全設(shè)備密封無塵,確保長期穩(wěn)定運(yùn)行。

  6、兼容性:能夠配合多種探針和光電測量系統(tǒng),可外接皮秒、飛秒激光器,進(jìn)行光電流探測。可外接拉曼二次諧波等光學(xué)無損測量。

  7、可定制性:可根據(jù)用戶的特定需求定制,比如探針的長度、角度以及臺座的大小等,以滿足特殊應(yīng)用條件。

  產(chǎn)品部件

  1.穩(wěn)定的基座

  由硬質(zhì)鋁合金板制成,確保整體結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性和減少外部振動的影響。

  2.探針臂

  探針頭:用于直接接觸樣品進(jìn)行測量的部分,可以更換以適應(yīng)不同的測量需求。

  微調(diào)機(jī)構(gòu):包括用于微調(diào)探針位置的精密螺旋,允許精細(xì)調(diào)整探針頭的位置和角度,以實現(xiàn)精確對準(zhǔn)。

  3.探針

  針尖類型:根據(jù)測量需求,探針的材質(zhì)、形狀和尺寸可以更換,如鎢針、金針等。

  多通道探針:用于同時進(jìn)行多點(diǎn)測量或信號輸入/輸出。

  4.樣品臺

  微動臺:允許精細(xì)調(diào)整樣品的位置,以便于探針的對準(zhǔn)和接觸。

  旋轉(zhuǎn)和傾斜機(jī)構(gòu):用于調(diào)整樣品的角度,以適應(yīng)不同的測量需求。

  5.顯微鏡放大設(shè)備

  立體顯微鏡:用于放大和觀察探針與樣品之間的接觸區(qū)域。

  攝像頭:配備攝像頭以方便用戶從屏幕上觀察操作。

  6.光學(xué)和照明設(shè)備

  光源:提供足夠的照明,幫助用戶更清晰地觀察樣品和探針。

  偏光器、濾光片:用于特定的光學(xué)觀察和測量。

  7.連接和接口

  電纜和連接器:用于將探針臺與測量儀器或計算機(jī)連接,進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸和控制。

  接地線:減少電氣干擾,提高測量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

  8.防振解決方案

  防振臺:減少環(huán)境振動對測量的影響。

  隔振墊或氣墊:用于進(jìn)一步降低振動和噪聲。

  產(chǎn)品功能

  半導(dǎo)體器件的特性測試:

  在半導(dǎo)體器件制造過程中,用于測量和分析晶體管、二極管等微型器件的電學(xué)性能,如電流-電壓(I-V)特性。

  納米材料的電學(xué)性能評估:

  對于納米線、納米管等納米尺度材料,使用進(jìn)行電導(dǎo)率、電阻率等基本電學(xué)特性的測量。

  薄膜材料的測試:

  在研究薄膜太陽能電池、發(fā)光二極管(LED)等薄膜材料時,用于測試薄膜的電學(xué)性能和均勻性。

  化學(xué)氣相沉積(CVD)制備的材料測試:

  對于通過CVD技術(shù)制備的石墨烯、過渡金屬硫化物等二維材料,使用探針臺進(jìn)行電學(xué)特性測試,如場效應(yīng)遷移率的測定。

  微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)的功能測試:

  在MEMS設(shè)備的研發(fā)中,手動探針臺被用于測試微型機(jī)械元件的電學(xué)響應(yīng),確保其性能符合設(shè)計要求。

  光電材料的性能評估:

  在研究有機(jī)光電材料時,例如有機(jī)光伏材料和有機(jī)發(fā)光材料,探針臺用于測量材料的光電轉(zhuǎn)換效率和發(fā)光特性。






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