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APD-QE 先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 光焱科技股份有限公司
  • 品牌 Enlitech
  • 型號 APD-QE
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2025/3/7 16:02:06
  • 訪問次數(shù) 3102

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光焱科技股份有限公司介紹

 

Enlitech光焱科技創(chuàng)建于2009年,專精量子效率(Quantum Efficiency/ SR/ IPCE)測量,從事科學(xué)儀器的研發(fā)、客制化生產(chǎn)并提供客戶一站式解決方案及服務(wù)。

 

  • R&D 創(chuàng)新研發(fā)、技術(shù)整合、客戶端解決方案

 

在日新月異的太陽能光伏/半導(dǎo)體/材料科學(xué)/化學(xué)領(lǐng)域中,為客戶預(yù)先提供“下一步”解決方案,幫助客戶實(shí)現(xiàn)在科學(xué)研究、技術(shù)和產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的專業(yè)和創(chuàng)新突破。我們擁有光學(xué)技術(shù)、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)、電子與電控技術(shù)整合、軟體與資料庫設(shè)計(jì)開發(fā),根據(jù)產(chǎn)業(yè)動態(tài)、豐富業(yè)務(wù)經(jīng)驗(yàn),為客戶提供產(chǎn)品與專案企劃、咨詢需求到系統(tǒng)運(yùn)營的整合性服務(wù)。成功協(xié)助客戶在半導(dǎo)體材料、太陽能電池、鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)、新型材料研究及影像傳感器(CMOS Sensor)、相機(jī)(含手機(jī)相機(jī)、工業(yè)相機(jī)及科學(xué)及相機(jī))等領(lǐng)域的研發(fā)上取得許多重大突破并獲得*成果。

 

  • 鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)應(yīng)用服務(wù)

 

擴(kuò)展鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell, PSC)應(yīng)用領(lǐng)域、提高轉(zhuǎn)換效率,是近年前沿研究的主要課題。近十年,鈣鈦礦太陽能電池光電轉(zhuǎn)換效率的成長紀(jì)錄不斷刷新世界紀(jì)錄,目前已達(dá)到23.3%,成為太陽能電池領(lǐng)域的新秀!由于鈣鈦礦太陽電池具有高度不穩(wěn)定性、衰減速率快等特性,成為研究人員面臨的挑戰(zhàn)。我們針對鈣鈦礦太陽能電池的特性,提供涵蓋設(shè)計(jì)、研發(fā)、軟體、測樣、分析管理等測量儀器與整合方案,讓客戶能有效、準(zhǔn)確地測出鈣鈦礦太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率,為客戶研究創(chuàng)新帶來優(yōu)勢。

 

  • 多元產(chǎn)業(yè)應(yīng)用服務(wù)

 

光焱科技將光電檢測技術(shù),延伸至半導(dǎo)體、材料科學(xué)、LED發(fā)光材料、航太應(yīng)用及生醫(yī)領(lǐng)域,提供專案研發(fā)和實(shí)驗(yàn)室儀器配套應(yīng)用的制造、整合、測試和維護(hù)管理供應(yīng)鏈服務(wù)。服務(wù)亦涵蓋標(biāo)定校正設(shè)備的客制研發(fā),為科學(xué)研究、檢測認(rèn)證、新產(chǎn)品開發(fā)、制造生產(chǎn)提供完整可靠的一站式解決方案。

技術(shù)與維護(hù)服務(wù)

 

光焱科技自2012年起陸續(xù)在大陸、日本、美國、中東及印度建立銷售通路及售后服務(wù)據(jù)點(diǎn),我們致力于提供給客戶完整的檢測分析工具,即時(shí)提供合適的解決方案,協(xié)力科學(xué)研究、助力產(chǎn)業(yè)升級創(chuàng)新。我們的標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品及專案能依據(jù)客戶需求進(jìn)行調(diào)整和擴(kuò)展,服務(wù)分為四大類別:

 

*專案解決方案:依據(jù)客戶需求進(jìn)行新產(chǎn)品研發(fā)/產(chǎn)品升級/系統(tǒng)整合等服務(wù)。

 

*One-stop-shop 一站式統(tǒng)合服務(wù):涵蓋多元的廠牌合作服務(wù)。

 

*維護(hù)管理服務(wù):提供維修及產(chǎn)品健檢管理服務(wù)。

 

*快速支援服務(wù):涵蓋售前售后客服支援、技術(shù)支援、科研支援服務(wù)。

 

QE量子效率測試儀,3A

測量模式 交流 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,能源

特色


  • 使用均勻光源的「照度模式」(Irradiance Mode) 符合ASTM E1021

  • 取代傳統(tǒng)聚焦小光源,可以測試等級光電子檢測器。

  • 均勢光斑可以克服色散差與像差的問題,可準(zhǔn)確測量得EQE曲線

  • 可搭配多種探針系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)非破壞性的快速測試。

  • 整合光學(xué)與測試系統(tǒng),提高系統(tǒng)搭建效率。

  • 一體式自動化測試軟件,自動光譜保存與檢測,工作效率高。

  • 測試特性:

– 環(huán)境效率 EQE

– 光譜回應(yīng) SR

– IV 曲線檢測

– NEP 光譜檢測

– D* 光譜檢測

– 噪聲-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz)

Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析



專業(yè)技術(shù)


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)定制化光斑尺寸與光強(qiáng)度

光焱科技APD-QE光譜儀量子效率檢查系統(tǒng)在光束直達(dá)25mm光束尺寸、工作距200mm條件下檢查,可以達(dá)到光強(qiáng)度與光均強(qiáng)度如下。在波長530nm時(shí),光強(qiáng)度可以達(dá)到82.97uW/(cm 2 )。


波長 (納米)半高寬(nm)光均U%=(Mm)/(M+m)
5毫米×5毫米3毫米×3毫米
47017.651.6%1.0%
53020.131.6%1.2%
63019.851.6%0.9%
100038.891.2%0.5%
140046.051.0%0.5%
160037.401.4%0.7%


在光斑直徑25mm、工作距200mm條件下,APD-QE探測器量子效率測試系統(tǒng)測量的光均強(qiáng)度。

光焱科技具備自主光學(xué)設(shè)計(jì)能力。光斑與光強(qiáng)度在內(nèi)容中,可以接受客製化,如有需要與我們聯(lián)繫。



先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)定量控制功能


APD-QE 光感測器量子效率檢測系統(tǒng)具有「定量」功能(選配),用戶可以透過控制各個(gè)單色光子數(shù),讓各波長光子數(shù)都一樣,并進(jìn)行測試。這也是光感測科技 APD-QE 光感測器量子效率檢測系統(tǒng)的獨(dú)到技術(shù),其他廠商都做不到。


先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)使用定量子數(shù)控制模式(CP控制模式),子數(shù)變化可以 < 1%


系統(tǒng)架構(gòu)

先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)


系統(tǒng)規(guī)格

統(tǒng)一系統(tǒng)與探針整合

先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
可量測可客裂解
1.最終光強(qiáng)校正.客化暗箱
2.光譜響應(yīng)測定.XYZ軸位移平臺
3.外部量子效率(EQE).定制探針臺整合服務(wù).
4.NEP 光譜
5.D*光譜
6.噪音-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 )
7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
8.IV 曲線測試
.不同光IV 曲線測試
.定電流/電壓,電壓/電流間變化測試
.照光條件下

高均光斑

  采用了利傅立葉光學(xué)元件均光系統(tǒng),可將單色光強(qiáng)度空間分布均勢化。在 10mm x 10mm 面積以 5 x 5 檢測光強(qiáng)度分,不一致勢在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小於 1%。在 20mm x 20mm 面積以 10 x 10 矩檢測光強(qiáng)度分,不一致勢可以小於 4%。


PDSW 軟體

  PDSW軟件采用全新SW-XQE軟件平臺,可進(jìn)行多種自動化檢測,包含EQE、SR、IV、NEP、D*、速率雜訊電流圖(A/Hz1/2)、雜訊分析等。



▌EQE 測試

  EQE測試功能,可以進(jìn)行不同單色波長測試,并且可以自動測試全光譜EQE。


▌IV檢查

  軟體可支持多種 SMU 控制,自動進(jìn)行光照 IV 測試以及暗態(tài) IV 測試,并支持多圖顯示。


▌D* 與 NEP

  相對于其它 QE 系統(tǒng),APD-QE 可以直接檢測并得到 D* 與 NEP。


▌速率-雜訊電流曲線


▌可升級軟件

  升級FETOS軟件操作界面(選配),可測試3端與4端的Photo-FET組件。


內(nèi)部集成探針臺


  APD-QE 系統(tǒng)由其出色的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),可以組成多種探針臺。全波長光譜儀的所有光學(xué)元件都集成在精巧的系統(tǒng)中。單色光學(xué)儀引到探針臺遮光罩盒。圖像顯示了 MPS-4-S 基本探針臺組件,帶有 4 英寸真空吸入盤和 4 個(gè)帶有低噪音三軸電子的探針微定位器。

先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)
先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

  集成探針臺顯示微鏡,手動滑動切換到被測試設(shè)備的位置。使用滑動條件后,單色光源器被「固定」在設(shè)計(jì)位置。顯示微圖像可以顯示于屏幕上,方便用戶進(jìn)行良好的連接。


可客制化整合多種探針與遮光暗箱

先進(jìn)光電探測器量子效率與參數(shù)分析系統(tǒng)

A. 定制化隔離遮光箱。
B. 由于先進(jìn)的PD估算響應(yīng)速度,所以有效面積就要小(降低容量效率),因此,有很多需要整合探針臺的需求。
C. 可整合不同的半導(dǎo)體分析儀器如4200或E1500。


應(yīng)用程式

  1. LiDAR 中的光電探測器
    – InGaAs 光電二維 / SPAD

  2. 蘋果手錶光能電感測器

  3. 用於高增益感和成像光電二極體門控電晶體

  4. 高頻電感增益和填充系數(shù)光學(xué)靈敏度分析儀

  5. 高靈敏程度間轉(zhuǎn)換X射線探測器表徵

  6. 矽光學(xué)
    – InGaAs APD












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