碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)
- 公司名稱 大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司
- 品牌 創(chuàng)銳光譜
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/12/4 11:14:45
- 訪問次數(shù) 860
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)特點:
SiC襯底位錯缺陷檢測專用設(shè)備
光學(xué)非接觸無損檢測
BPD、TSD、TED分類識別
SiC襯底:4'/6'/8';導(dǎo)電、半絕緣
碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)最高檢測速度:<17min/片(6")
大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時間分辨光譜技術(shù),致力于推動光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用。在科研儀器領(lǐng)域,創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?,是目前國?nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團隊。創(chuàng)銳光譜以時間分辨光譜核心技術(shù),超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品,打破進口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域,公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點,已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局。