Load Port對應膜厚測量系統(tǒng) GS-300
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 上海波銘科學儀器有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/1/23 11:17:50
- 訪問次數(shù) 255
產品標簽
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產品信息
測量示例
TSV嵌入式圖形晶圓研磨后的硅厚度
晶圓厚度Φ300mm尺寸
規(guī)格
測量示例
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經過多年的發(fā)展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業(yè)內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。