分光輻射照度測量系統(tǒng)
- 公司名稱 上海波銘科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/1/23 11:34:03
- 訪問次數(shù) 275
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光學(xué)測試系統(tǒng);光源/激光器;光譜儀;光電探測器;電子數(shù)據(jù)采集器;光學(xué)平臺;電動位移臺;手動位移臺;調(diào)整架;光學(xué)元件
產(chǎn)品信息
特殊長度
該檢測器
是一種高性能的分光光度計,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。
覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
帶軟件的樣品照明電源,測量儀器批量控制
LIV測量,脈沖點測量,樣品溫控測量
設(shè)備校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)燈由我們自己的部門提供,并由 JCSS 校準(zhǔn)公司注冊。
評價項目
照度、輻照度
光譜數(shù)據(jù)(光譜輻照度)
其他測量項目
三刺激值 XYZ、色度坐標(biāo) xy、uv、
u’v’相關(guān)色溫、Duv、主波長、刺激純度 顯
色指數(shù) Ra、R1 至 R15
峰值波長、半寬
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD
設(shè)備構(gòu)成
單點型
半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量
玻璃基板的面內(nèi)分布測量
多點型
實時測量
流向品質(zhì)管理
真空室適用
導(dǎo)線型
實時測量
寬度方向品質(zhì)管理
測量案例
超硬涂層的膜厚解析