官方微信|手機(jī)版

產(chǎn)品展廳

產(chǎn)品求購企業(yè)資訊會展

發(fā)布詢價單

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)成像設(shè)備>其它光學(xué)成像設(shè)備> 分光配光測量系統(tǒng) GP series

分享
舉報 評價

分光配光測量系統(tǒng) GP series

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
產(chǎn)品標(biāo)簽

分光配光測量

聯(lián)系方式:高琴查看聯(lián)系方式

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


上海波銘科學(xué)儀器有限公司成立于2013年,是一家專業(yè)從事科學(xué)儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技技術(shù)企業(yè)。公司主要服務(wù)于各大高校、科研院所和高*工業(yè)客戶。主要提供光學(xué)儀器如光柵光譜儀、熒光光譜儀,膜厚測量儀,探測器響應(yīng)分析儀、太陽能電池量子效率測試系統(tǒng)等科研實驗室儀器;及光學(xué)機(jī)械加工設(shè)計,電子測量等專業(yè)的解決方案服務(wù)。公司以“專注質(zhì)量、用心服務(wù)”為核心價值。希望通過我們的專業(yè)水平和不懈努力,力爭為中國的科研及精密制造事業(yè)貢獻(xiàn)一股力量。

上海波銘科學(xué)儀器公司為美國理波公司(Newport)、日本大塚(Otsukael)正式代理商。配有專業(yè)光學(xué)技術(shù)人員,專注于光學(xué)儀器市場的開發(fā)和應(yīng)用,已經(jīng)為復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、上??萍即髮W(xué)、南京大學(xué)、中國科技大學(xué)、北京大學(xué)、清華大學(xué)、聯(lián)影醫(yī)療、思特威電子等用戶提供專業(yè)的服務(wù)。

公司成立多年來,我們一直秉承以用戶需求為核心,在專注光學(xué)等核心技術(shù)市場的同時,已經(jīng)為超過一百家高??蒲性核推髽I(yè)提供了成套和部分的解決方案服務(wù)。優(yōu)質(zhì)、用心的服務(wù)贏得了眾多用戶的信賴和好評。公司不僅僅提供專業(yè)的光學(xué)解決方案服務(wù),同時還建立了完善的售后服務(wù)體系。我們相信,通過我們的不斷努力和追求,一定能夠?qū)崿F(xiàn)與高校、企業(yè)、科研院所的互利共贏!

 

 

 

光學(xué)測試系統(tǒng);光源/激光器;光譜儀;光電探測器;電子數(shù)據(jù)采集器;光學(xué)平臺;電動位移臺;手動位移臺;調(diào)整架;光學(xué)元件

評價項目

發(fā)光強(qiáng)度角分布(配光)

光譜輻射通量(光譜)

飽和度坐標(biāo) (u’, v’) [JIS Z8781-5]

飽和度坐標(biāo) (x, y) [JIS Z 8724]

顯色指數(shù)(Ra、R1 至 R15)[JIS Z 8726]

相關(guān)色溫和 Duv [JIS Z 8725]

主波長(Dominant)和刺激純度(Purity)[JIS Z8781-3]

IES(符合 LM63-2002 和 JIS Z8105-5)文件

* 1 IES分析軟件[大冢電子制造]也可以讀取和分析其他公司的光分布測量設(shè)備計算出的IES文件。

規(guī)格

模型GP-500 *1GP-1100 *1GP-2000

光學(xué)系統(tǒng)*22軸測角儀

θφ坐標(biāo)系θφ坐標(biāo)系αβ坐標(biāo)系/θφ坐標(biāo)系

光路長度500 毫米或更小500-1500mm1500 毫米或更多

對應(yīng)樣品LED芯片通用照明
模塊
一般照明,包括直管燈
探測器多通道光譜儀
測量波長范圍 *3220nm-2500nm
評價項目光強(qiáng)度的角度分布(光分布)
光譜輻射通量(spectrum)
色度坐標(biāo)(u’,v’)[JIS Z8781-5] 色度坐標(biāo)(x,y)[JIS Z 8724] ·主要波長(Dominant)和刺激純度(Purity)[JIS Z8781-3] ·相關(guān)色溫和Duv[JIS Z 8725] ·色彩性能評價數(shù)(Ra,R1至R15)[JIS Z 8726] ·IES(LM63-2002)和 JIS Z 8105-5 兼容)

* 1 可以進(jìn)行光譜輻射的光分布測量 * 2 兼容IESNA LM-75 * 3 可以選擇檢測器的波長范圍
* 4 IES 分析軟件[大冢電子制造] 由另一家公司的光分布測量設(shè)備計算。IES 文件可以閱讀和分析

 

配光測量方法中的坐標(biāo)系類型(JIS C 8105-5)

坐標(biāo)系
類型
相對于極軸的傾斜角
(垂直角)
以極軸為旋轉(zhuǎn)中心的傾斜角
(水平角)
IESNA LM-75 符號
角標(biāo)角度范圍角標(biāo)角度范圍
αβ坐標(biāo)系α-90°≤α≤90°β-180°≤β<180°B型
θφ坐標(biāo)系θ0°≤θ≤180°θ0°≤φ<360°C型

分光配光測量系統(tǒng) GP series

設(shè)備配置

分光配光測量系統(tǒng) GP series分光配光測量系統(tǒng) GP series




化工儀器網(wǎng)

采購商登錄
記住賬號    找回密碼
沒有賬號?免費(fèi)注冊

提示

×

*您想獲取產(chǎn)品的資料:

以上可多選,勾選其他,可自行輸入要求

個人信息:

溫馨提示

該企業(yè)已關(guān)閉在線交流功能