Wejex S 美國 TOBIAS associates 感光度計(jì)

美國 TOBIAS associates  感光度計(jì)

Wejex-S直接在膠片上曝光灰度，精度高，一致性好。產(chǎn)生一個5/16英寸x 4 l/2英寸編號的21步刻度。這樣就無需購買預(yù)暴露的控制條。包括不同膠片速度的可調(diào)曝光。

• 在2  1/2秒內(nèi)直接在膠片上產(chǎn)生5/16英寸x 4 1/2英寸編號的21級灰度

• 減少因圖像質(zhì)量差而可能導(dǎo)致的患者再次曝光

• 減少因加工不當(dāng)造成的膠片浪費(fèi)

• 消除預(yù)曝光控制條膠片和生產(chǎn)膠片之間的差異

• 無需購買預(yù)先暴露的控制條

• 提高加工部門的生產(chǎn)率

• 藍(lán)色和/或綠色過濾器的選擇

• 內(nèi)部快門允許更精確的曝光。還可以調(diào)整曝光時間以適應(yīng)不同的膠片速度（Wejex SF）

• 美國 TOBIAS associates  感光度計(jì)

  美國 TOBIAS associates Paper-Chek Plate Dot Meter 板點(diǎn)計(jì)在印版到達(dá)印刷室之前檢查印版上的網(wǎng)點(diǎn)增加？對用一個新的膠印版密度計(jì)，印版從托拜厄斯開始檢查。Plate Chek重量輕、攜帶方便，具有光學(xué)頭設(shè)計(jì)，可以自動選擇合適的過濾器來讀取平板圖像。易于使用的網(wǎng)點(diǎn)面積功能使您能夠確定直接制版或傳統(tǒng)制版曝光方式產(chǎn)生的印版上的網(wǎng)點(diǎn)增加程度。評估曝光強(qiáng)度，消除熱點(diǎn)，用Tobias Plate Chek Plate密度計(jì)檢查真空壓下，以進(jìn)行精確的QC網(wǎng)點(diǎn)增益評估。

• 特征

  測量CTP和常規(guī)處理版上的網(wǎng)點(diǎn)面積。

• 自動光譜選擇，提高平板圖像的閱讀靈敏度。

• 清晰的塑料靶標(biāo)便于觀察測量區(qū)域。

• 大LCD屏幕上顯示簡單的英文說明；高對比度顯示屏幾乎在任何角度都易于閱讀。

• 為后續(xù)讀數(shù)存儲基值和實(shí)值。

• 光滑、無劃痕的底座保護(hù)板材表面。

• 易于軟件校準(zhǔn)。無需反復(fù)調(diào)整螺絲刀。

• 每次電池充電都會有幾千個讀數(shù)。也可通過AC/DC適配器/充電器運(yùn)行。

• 不使用90秒后自動關(guān)閉可節(jié)省電池壽命。通電時顯示上次讀數(shù)。