相位偏折測(cè)量系統(tǒng)

相位偏折術(shù)/相位偏折測(cè)量系統(tǒng)

相位偏折術(shù)/相位偏折測(cè)量系統(tǒng)產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

 偏折測(cè)量技術(shù)（PDM）又稱(chēng)為相位偏折術(shù)或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測(cè)量技術(shù),絕對(duì)檢測(cè)精度可達(dá)10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等面型的高精度檢測(cè)。具有測(cè)量角度大、非接觸、精度高、速度快等特點(diǎn)。

 上海昊量光電設(shè)備有限公司近日推出市面上shou款商業(yè)化的共軸偏折術(shù)測(cè)量系統(tǒng)，具有操作方便，檢測(cè)精度高（<15nm RMS）,應(yīng)用范圍廣等特點(diǎn)。相位偏折測(cè)量 系統(tǒng)主要由ccd相機(jī) 、LCD顯示屏和待測(cè)件三個(gè)部分組成，系統(tǒng)配置如下圖。LCD顯示屏投射提前生成好的結(jié)構(gòu)光正弦條紋，正弦條紋被待測(cè)鏡表面反射后發(fā)生畸變，CCD相機(jī)采集畸變后的條紋，再利用相位斜率映射關(guān)系從畸變的條紋圖中計(jì)算出待測(cè)鏡梯度信息，再根據(jù)基梯度數(shù)據(jù)的面形重構(gòu)算法，重建出待測(cè)鏡的面形。

圖1 偏折術(shù)測(cè)試系統(tǒng)

偏折術(shù)系統(tǒng)（PMD）產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

• 檢測(cè)精度高：<15nm RMS

• 測(cè)量范圍寬：能夠測(cè)量平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等；

• 對(duì)環(huán)境噪聲不敏感：具有非常強(qiáng)的抗環(huán)境干擾；

• 系統(tǒng)搭建簡(jiǎn)單、性?xún)r(jià)比高：使用商業(yè)化的配件，對(duì)成像光路沒(méi)有特殊要求。

相位偏折術(shù)/相位偏折測(cè)量 系統(tǒng)測(cè)試案例：

圖2 平面鏡（λ/10）檢測(cè)

圖3 球面鏡（Thorlabs ,CM508-500-G01）檢測(cè)

圖4 離軸拋物面鏡檢測(cè)

圖5 ONERA公司TMA自由曲面檢測(cè)（右側(cè)為LUPHOScan輪廓儀測(cè)試結(jié)果）

相位偏折術(shù)/相位偏折測(cè)量 系統(tǒng)產(chǎn)品應(yīng)用：

隨著工業(yè)制造業(yè)發(fā)展，我國(guó)在航空航天、裝備制造、汽車(chē)工業(yè)、生物醫(yī)學(xué)與通信和微電子高科技等領(lǐng)域方面對(duì)鏡面和鏡面類(lèi)等零件需求越來(lái)越大，其已經(jīng)成為了我國(guó)在通信行業(yè)的關(guān)鍵零件之一。制造過(guò)程中有一道必要工序就是面形檢測(cè)，目前的常用檢測(cè)方法存在檢測(cè)效率低，檢測(cè)精度不滿(mǎn)足要求等問(wèn)題，隨著上海昊量光電設(shè)備有限公司相位偏折測(cè)量 系統(tǒng)（偏折術(shù)）推出，可以有效助力我國(guó)的科技項(xiàng)目。

關(guān)于昊量光電：

上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專(zhuān)業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類(lèi)激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國(guó)防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶(hù)提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開(kāi)發(fā)，軟件開(kāi)發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。