TopMap Metro.Lab Polytec 高精度平面度測量儀
| 參考價 | ￥ 1 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 廣州萬智光學技術有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 TopMap Metro.Lab
- 產地 德國
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/29 11:52:30
- 訪問次數 46
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| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 100萬-200萬 | 應用領域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
Polytec 的 TopMap Metro.Lab 是一種高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），具有大的垂直范圍和納米分辨率。這意味著 Metro.Lab 外形測量系統非常適合非接觸式測量大面積表面和結構，甚至是柔軟和精密材料的平面度、臺階高度和平行度。
作為一個完整的測量站，TopMap Metro.Lab 是您想要測量幾乎所有表面上的大面積外形的解決方案。即使在困難條件下，70mm 的大垂直測量范圍也允許您使用亞納米分辨率進行測量。
由于 TopMap Metro.Lab 物超所值，無論是用于計量實驗室或是靠近生產現場的地方，都非常具有吸引力。它可以處理許多您以前使用觸覺系統進行處理的任務。與所有 TopMap 系統一樣，開放式的軟件架構還允許您編制常規(guī)任務或設置自己的用戶界面。
由于TopMap Metro.Lab具性價比，因此在從計量實驗室到接近生產的所有地點使用時都特別有吸引力。TopMap Metro.Lab允許比傳統的觸覺測量法更全面的表面分析。與所有TopMap系統一樣，開放的軟件架構也使您能夠對常規(guī)任務進行編程或設置您自己的用戶界面。
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