菲希爾X射線測厚儀 XDL230
- 公司名稱 無錫駿展儀器有限責(zé)任公司
- 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/12/9 13:41:59
- 訪問次數(shù) 139
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,綜合 |
菲希爾X射線測厚儀 XDL230
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 230 特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/p>
菲希爾代理XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量。
由于采用了 FISCHER 基本參數(shù)法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。