BGA焊點(diǎn)開(kāi)裂不良失效分析
- 公司名稱 蘇州天標(biāo)檢測(cè)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/12/9 16:58:21
- 訪問(wèn)次數(shù) 40
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常用失效分析技術(shù)手段
電測(cè):
連接性測(cè)試
電參數(shù)測(cè)試
功能測(cè)試
無(wú)損分析技術(shù):
X射線透視技術(shù)
三維透視技術(shù)
反射式掃描聲學(xué)顯微技術(shù)(C-SAM)
制樣技術(shù):
開(kāi)封技術(shù)(機(jī)械開(kāi)封、化學(xué)開(kāi)封、激光開(kāi)封)
去鈍化層技術(shù)(化學(xué)腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機(jī)械研磨去鈍化層)
微區(qū)分析技術(shù)(FIB、CP)
失效定位技術(shù):
顯微紅外熱像技術(shù)(熱點(diǎn)和溫度繪圖)
液晶熱點(diǎn)檢測(cè)技術(shù)
光發(fā)射顯微分析技術(shù)(EMMI)
表面元素分析:
掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)
俄歇電子能譜分析(AES)
X射線光電子能譜分析(XPS)
二次離子質(zhì)譜分析(SIMS)