X-MET8000 日本日立手持式X射線熒光光譜儀
- 公司名稱 上海松凱科技有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號(hào) X-MET8000
- 產(chǎn)地 上海
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/12/12 15:26:25
- 訪問(wèn)次數(shù) 123
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材料試驗(yàn)機(jī)、疲勞試驗(yàn)機(jī)、直讀光譜儀、X射線熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、碳硫分析儀、高效液相色譜儀、氣相色譜儀、掃描電鏡、硬度計(jì)、核磁共振譜儀、同步熱分析、原子力顯微鏡、工業(yè)CT、接觸角測(cè)量?jī)x、熒光光譜儀等等
分析含量范圍 | ppm-100% | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
能量分辨率 | 145eveV | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 農(nóng)業(yè),地礦,冶金,航天,汽車 |
元素分析范圍 | Mg-U | 重復(fù)性 | 每個(gè)元素不一樣 |
手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級(jí)鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡(jiǎn)單,可為您提供可靠的結(jié)果。
我們提供多種型號(hào)的產(chǎn)品,符合您不同應(yīng)用的所有分析需要和預(yù)算。
為什么選擇 X-MET 光譜儀
卓Yue性能
X-MET提供Ji好的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測(cè)限度低,且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。通過(guò)靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析,從而測(cè)試多種材料;或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確,則使用實(shí)證校準(zhǔn)。
操作簡(jiǎn)單
大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開(kāi)始操作。
符合人體工學(xué)
X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡(jiǎn)潔、平衡性好,可供長(zhǎng)時(shí)間使用,而疲勞度非常低。
堅(jiān)固耐用而擁有成本低
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
通過(guò)MIL-STD-810G軍Yong耐用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。
其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測(cè)量導(dǎo)致探測(cè)器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。
高級(jí)數(shù)據(jù)管理
完Quan靈活:可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上,將報(bào)告輸出到U盤(pán)或個(gè)人計(jì)算機(jī),或自動(dòng)將X-MET數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在LiveData云端。
應(yīng) 用
比較型號(hào)
X射線管:40kV
濾光片:?jiǎn)我?/p>
檢測(cè)器:大面積 SDD
最高樣本溫度:400oC
符合 IP54 等級(jí)
Thick Kapton®窗口:保護(hù)以預(yù)防探測(cè)器的窗戶損壞
校準(zhǔn):基本參數(shù)法(FP)
內(nèi)置攝像頭 (可選)
X射線管:40kV or 50kV
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測(cè)器:大面積 SDD
最高樣本溫度:100oC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)
符合 IP54 等級(jí)
可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn):基本參數(shù)法 (包括輕元素分析)
內(nèi)置攝像頭(可選)
小光班準(zhǔn)直器(可選)
針對(duì)所有元素(從鎂到鈾)進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片
X射線管:50kV
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測(cè)器:大面積 SDD
最高樣本溫度:100oC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)
符合 IP54 等級(jí)
可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn)方法:自動(dòng)跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(可進(jìn)行追溯)
內(nèi)置攝像頭
小光班準(zhǔn)直器 (可選)
針對(duì)所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片