化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>磁學(xué)測(cè)量?jī)x器>其它磁性測(cè)量系統(tǒng)>TTT-02-Kerr Microscope 托托科技 多功能顯微系統(tǒng) 磁光克爾顯微鏡
TTT-02-Kerr Microscope 托托科技 多功能顯微系統(tǒng) 磁光克爾顯微鏡
- 公司名稱 托托科技（蘇州）有限公司
- 品牌
- 型號(hào) TTT-02-Kerr Microscope
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/20 10:20:47
- 訪問(wèn)次數(shù) 72
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無(wú)掩膜版紫外光刻機(jī)，超高精度3D光刻產(chǎn)品，形貌表征產(chǎn)品，光電光譜分析產(chǎn)品，3D成像顯微物鏡，磁光電聯(lián)合分析
托托科技 多功能顯微系統(tǒng) 磁光克爾顯微鏡 應(yīng)用在磁性薄膜材料顯微磁疇測(cè)量
(a)為樣品 CoTb(6 nm)/SiN(4 nm)在零磁場(chǎng)附近出現(xiàn)迷宮疇以及孤立斯格明子磁泡結(jié)構(gòu)(Skyrmions Bubble)，圖中單個(gè)穩(wěn)定的Skyrmions Bubble 的尺寸為1 μm。為研究基于 SK-RM賽道存儲(chǔ)器提供光學(xué)無(wú)損傷探測(cè)支持。
(b)為樣品 Pt(4 nm)/Co (5 nm)/Ta(2 nm)在磁場(chǎng)的驅(qū)動(dòng)實(shí)現(xiàn)磁疇運(yùn)動(dòng)和翻轉(zhuǎn)，磁矩“1”和“0”信息狀態(tài)清晰可見(jiàn)。
(c)290K下，樣品CuCr2Te/Cr2Te3，磁場(chǎng)驅(qū)動(dòng)磁疇翻轉(zhuǎn)。上圖顯示的是 180 Oe磁場(chǎng)下的磁疇?wèi)B(tài)，下圖顯示的是 -180 Oe 磁場(chǎng)下的磁疇?wèi)B(tài)。
托托科技 多功能顯微系統(tǒng) 磁光克爾顯微鏡 應(yīng)用在梯度自旋流累積
(a)Pt(up to 3.2 nm)/Co(0.6 nm)/Pt(1.5 nm)楔形樣品構(gòu)建梯度自旋流積累，實(shí)現(xiàn)無(wú)場(chǎng)翻轉(zhuǎn)；
(b)和(d)，表示不同電流密度下，磁疇成核過(guò)程。(I=10 mA，Hx= 0 Oe)/( I=22 mA，Hx= 0 Oe) Hall Bar磁疇成核過(guò)程。測(cè)試電流小時(shí)，薄膜樣品磁疇在十字中心位置成核（紫色圓圈）；當(dāng)測(cè)試電流逐漸變大，磁疇在十字臂一側(cè)成核（紫色方形）；
(c)和(e)，表示不同電流密度下,磁滯回線。(I=10 mA，Hx= 0 Oe)/( I=22 mA，Hx= 0 Oe)下的磁滯回線。大電流密度有助于磁場(chǎng)驅(qū)動(dòng)磁疇翻轉(zhuǎn)；
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