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飛馳(北京)科學儀器有限公司

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U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀

具體成交價以合同協(xié)議為準

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靈柯精密儀器(山東)有限公司致力為節(jié)能、環(huán)保、特檢、高耗能企業(yè)、高??蒲小⑹称丰t(yī)藥等工業(yè)過程檢測的行業(yè)客戶提供全套解決方案;是一家集儀器研發(fā)、生產、銷售和技術服務于一體的科技型公司。

    企業(yè)以誠信為立身之本、以專業(yè)為發(fā)展之翼,精益求精,以切實為客戶解決問題作為企業(yè)長期的遠景,為客戶創(chuàng)造價值,提供售前、售中和售后一體化優(yōu)質的客戶服務是我們永恒的追求!

    靈柯精密儀器一直注重客戶利益,愿與廣大客戶共謀發(fā)展、合作共贏;愿與全國各界有關企業(yè)建立長期友好的合作關系,為用戶提供高品質的產品和最完善的服務。

    我司產品覆蓋范圍廣泛,包含環(huán)境檢測,實驗室儀器、顆粒物以及大氣相關設備檢測。

    期待與您的合作!

    Link precision instrument ---Linking for you  !


煙氣分析儀,氣溶膠發(fā)生器,粒徑譜儀,濾材濾料測試,紅外熱像儀,大氣顆粒檢測,水質土壤重金屬毒性檢測,過濾效率測試,呼吸阻力測試,環(huán)境檢測

產地類別 國產 應用領域 綜合

U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀,適合2-400 nm的高濃度應用

•    2至400 nm粒徑分布

•    連續(xù)和快速掃描的測量原理

•    高分辨率,最多128個分類器/衰減

•    適用于高達108顆粒/立方厘米的濃度

•    通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數(shù)器

•    圖形顯示測量值

•    直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI

•    集成數(shù)據記錄儀

•    支持多種接口和遠程訪問

•    低維護

•    功能可靠

•    減少您的運營費用
適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱(1700型),特別適合2-400 nm范圍內的高精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器(DEMC),也稱為差動遷移率分析儀(DMA)],根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后,在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。


氣溶膠靜電計的一個主要優(yōu)點是可以進行非常快速的測量。但是,這種方法需要很高的成本。因此,其適用性被限制于高氣溶膠濃度(例如,燃燒過程或顆粒發(fā)生器的下游)??梢酝ㄟ^物理參數(shù)直接追溯每時間單位(流量)的電荷測量值。其結果是,此方法主要用作凝結粒子計數(shù)器(例如UF-CPC)校準期間的參考。

U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作。可以在短短30秒內執(zhí)行單粒子分布掃描,或者最多在128個尺寸通道中執(zhí)行掃描,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化,從而導致每個尺寸通道的計數(shù)統(tǒng)計效率更高。集成的數(shù)據記錄器允許在設備上線性和對數(shù)顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數(shù)據評估(豐富的統(tǒng)計和平均值計算)和導出功能。

U-SMPS通常作為獨立設備運行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)連接到計算機或網絡。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和氣溶膠靜電計。

U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要,特別是對于校準。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試,并在內部組裝。

圖1展示U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀的工作原理:

U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀

圖1:使用氣溶膠靜電計作為濃度測量裝置的通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理

氣溶膠在進入分類器(DEMC列)之前經過調節(jié)??蛇x的干燥器(例如硅膠,Nafion)可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑(例如Kr 85)來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒,需要在DEMC的入口處使用撞擊器。

然后,氣溶膠通過入口導入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護套氣流仔細合并。重要的是在此處避免任何湍流,以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有高的質量。

鞘空氣是干燥、無顆粒的載氣(通常是空氣),其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數(shù),因此決定DEMC的分離能力。通過施加電壓,在內外電極之間會產生一個徑向對稱的電場。內電極在末端帶有小縫隙,帶正電。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力,帶負電的粒子被轉移到正電極。根據它們的電遷移率,一些顆粒會穿過狹縫并離開DEMC。

在工作中,電壓和電場因此而連續(xù)變化。結果,具有變化遷移率的顆粒會離開DEMC,并且由納米顆粒計數(shù)器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計(例如Palas®Charme®)連續(xù)測量-。

為了組合數(shù)據(電壓、電荷數(shù)、電荷分布等)并獲得粒度分布,必須進行逆變換。為此,使用的算法是由IfT(德國萊比錫)的Wiedensohler教授開發(fā)的算法。
U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀

圖2:在觸摸屏顯示Palas®DNP 3000顆粒發(fā)生器產生的氣溶膠粒徑分布

用戶界面和軟件

基于持續(xù)的客戶反饋,我們設計了良好的用戶界面和軟件,以實現(xiàn)直觀的操作、實時控制并顯示測量數(shù)據和參數(shù)。

此外,軟件還通過集成的數(shù)據記錄器、完善的導出功能和網絡支持為數(shù)據管理提供支持。測量數(shù)據可以顯示和評估。

可用系統(tǒng)

圖3顯示Palas®可提供的DEMC和Charme®氣溶膠靜電計的兩種組合。 對于DEMC分類器與Palas®冷凝粒子計數(shù)器的組合,請閱讀“U-SMPS 1xx0_2xx0_V0011212”規(guī)格參數(shù)表。 其他制造商提供的大多數(shù)DMA、CPC和氣溶膠靜電計都可以用作U-SMPS系統(tǒng)的組件。
U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀

圖3:用于高濃度顆粒測量的Palas®U-SMPS系統(tǒng)概述
技術參數(shù)
U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀




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