SR-SCOPE DMP 30 德國(guó)FISCHER菲希爾面銅測(cè)厚儀

德國(guó)FISCHER菲希爾面銅測(cè)厚儀SR-SCOPE DMP 30

銅厚接觸式測(cè)量專家 - SR-SCOPE DMP 30 銅厚測(cè)量
堅(jiān)固耐用、功能強(qiáng)大的手持設(shè)備，用于測(cè)量印刷電路板上的銅厚。數(shù)字探頭 D-PCB-具有出色的精度和最大的可重復(fù)性，并與設(shè)備一起通過(guò) USB-C 接口和藍(lán)牙實(shí)現(xiàn)智能連接，堅(jiān)固耐用、防磨損的探頭電極可確保長(zhǎng)期獲得精確的測(cè)量結(jié)果，適用于測(cè)量多層電路板或?qū)訅喊迳系谋°~層，不會(huì)受到隔離的深層銅層的影響。

功能全面，外殼堅(jiān)固耐用，采用現(xiàn)代設(shè)計(jì)和直觀的Tactile Suite®軟件。我們的 SR-SCOPE® DMP®30 是測(cè)量 PCB 銅層的專家。在您的生產(chǎn)過(guò)程中，無(wú)論是來(lái)貨還是出貨，都能精確可靠地檢測(cè)銅層厚度，而不受底層的影響。

優(yōu)點(diǎn)
經(jīng)久耐用 - 采用全鋁外殼，質(zhì)量和耐用性更上一層樓
貼合 - 電池更換快捷方便，可全天候測(cè)量全面測(cè)量控制 - 通過(guò)燈光、聲音和振動(dòng)反饋測(cè)量值是否在公差范圍內(nèi)。
數(shù)字探頭 - 全數(shù)字化探頭，可完成難以完成測(cè)量任務(wù)
功能強(qiáng)大的 軟件 - 自動(dòng)識(shí)別設(shè)備，輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù)，提供全面報(bào)告

探頭
數(shù)字探頭 D-PCB-具有出色的精度和最大的可重復(fù)性，并與設(shè)備一起通過(guò) USB-C 接口和藍(lán)牙實(shí)現(xiàn)智能連接。    
可更換和充電的鋰離子電池可使測(cè)量工作持續(xù) 24 小時(shí)以上。這既經(jīng)濟(jì)又可持續(xù)。      
Tactile Suite@是接觸式涂鍍層厚度測(cè)量領(lǐng)域最直觀的軟件。傳輸、評(píng)估和導(dǎo)出數(shù)據(jù)從未如此簡(jiǎn)單。      
使用符合 DIN EN 14571 標(biāo)準(zhǔn)的4點(diǎn)電阻法可靠地測(cè)量涂鍍層厚度。  
堅(jiān)固耐用、防磨損的探頭電極可確保長(zhǎng)期獲得精確的測(cè)量結(jié)果。  
適用于測(cè)量多層電路板或?qū)訅喊迳系谋°~層，不會(huì)受到隔離的深層銅層的影響。

特點(diǎn)：
測(cè)量方法：微電阻率法
使用符合 DIN EN 14571 標(biāo)準(zhǔn)的 4 點(diǎn)電阻法測(cè)量涂鍍層厚度
測(cè)量范圍：0.5 - 10 微米或 5 - 120 微米
測(cè)量值記憶：2,500 個(gè)應(yīng)用中的 250,000 個(gè)
通過(guò) USB-C 和藍(lán)牙自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備并輕松傳輸數(shù)據(jù)
堅(jiān)固的鋁制外殼，防護(hù)等級(jí) IP64
可更換鋰離子電池，工作時(shí)間 > 24 小時(shí)
提供數(shù)字探頭 D-PCB
通過(guò)燈光、聲音和振動(dòng)監(jiān)測(cè)限值

應(yīng)用案列：
測(cè)量印刷電路板和多層板頂面的銅厚，而不會(huì)受到位于更深處的絕緣銅層的影響。
銅層厚度范圍為 0.5 - 10 µm 和 5 - 120 µm

測(cè)量方法：
微電阻率法
精確測(cè)定印刷電路板上的銅厚度。
微電阻率法適用于根據(jù) ISO 14571 測(cè)量絕緣基板上導(dǎo)電層的厚度。它通常用于檢查印刷電路板和多層印刷電路板上的銅涂層。該方法的優(yōu)點(diǎn)是，印刷電路板上的其他層或夾層對(duì)測(cè)量沒(méi)有影響，因此即使層數(shù)很薄，也能精確測(cè)量厚度。

微電阻率法的工作原理。
這種方法使用的探針底部有四根排成一行的針。將探針置于表面時(shí)，電流會(huì)在兩根外針之間流動(dòng)。涂層就像一個(gè)電阻，通過(guò)兩個(gè)內(nèi)針測(cè)量其上的電壓降。隨著涂層厚度的減小，電壓降和電阻也隨之增大，反之亦然?？刂朴∷㈦娐钒搴投鄬佑∷㈦娐钒迳系你~涂層
所有電磁測(cè)量方法都是比較法。這意味著測(cè)量信號(hào)要與設(shè)備中存儲(chǔ)的特性曲線進(jìn)行比較。為確保結(jié)果正確，必須根據(jù)當(dāng)前條件調(diào)整特性曲線。這可以通過(guò)校準(zhǔn)用于涂層厚度測(cè)量的測(cè)量設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn)。

哪些因素會(huì)影響測(cè)量結(jié)果？
所有電磁測(cè)量方法都是比較法。這意味著測(cè)量信號(hào)要與設(shè)備中存儲(chǔ)的特性曲線進(jìn)行比較。為確保結(jié)果正確，必須根據(jù)當(dāng)前條件調(diào)整特性曲線。這可以通過(guò)校準(zhǔn)用于涂層厚度測(cè)量的測(cè)量設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn)。

正確校準(zhǔn)帶來(lái)不同
影響涂層厚度測(cè)量的因素主要有：銅層的比電阻率（間接影響溫度）、測(cè)量表面或?qū)щ娐窂降拇笮∫约般~層上的附加層。

比電阻率和溫度
除涂層厚度外，銅的電阻率也會(huì)影響測(cè)量針之間的電壓降。電阻率會(huì)因金屬的合金和加工工藝而異。此外，它在不同溫度下也會(huì)變化。因此有必要在測(cè)量條件下進(jìn)行溫度補(bǔ)償或校準(zhǔn)。

測(cè)量面的大小
對(duì)于窄的測(cè)量表面，例如導(dǎo)電路徑，電流的運(yùn)行與寬的物體不同。這種與理論電流的偏差會(huì)導(dǎo)致涂層厚度測(cè)量的系統(tǒng)誤差。因此，對(duì)樣品的最小尺寸或到樣品邊緣的最小距離有專門的探頭規(guī)格。

附加層
如果銅上還有其他鍍層，如錫，探頭會(huì)根據(jù)銅厚度的比例測(cè)量其鍍層厚度。測(cè)量誤差的大小取決于銅和涂層材料的比電導(dǎo)率之比。

重要提醒
為避免測(cè)量結(jié)果出錯(cuò)，還必須考慮以下影響因素：
特別軟的涂層（如磷酸鹽涂層）造成的壓痕誤差。
探針桿磨損導(dǎo)致散射增加；建議定期檢查


為避免測(cè)量結(jié)果出錯(cuò)，還必須考慮以下影響因素：
特別軟的涂層（如磷酸鹽涂層）造成的壓痕誤差。
探針桿磨損導(dǎo)致散射增加；建議定期檢查

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
微電阻法，符合 ISO 14571 標(biāo)準(zhǔn)