SDE-400 山東全譜直讀光譜儀廠家

山東全譜直讀光譜儀廠家

? 光學(xué)焦距：光柵半徑400mm，較長(zhǎng)的焦距為儀器提供了優(yōu)秀的分辨率。

? 譜線范圍：可探測(cè)波長(zhǎng)范圍（120～800）nm，可分析包括 N、Li、 Na、K 等元素及常規(guī)元素，滿足各個(gè)基體材質(zhì)對(duì)測(cè)試元素的需求。

? 入射狹縫：狹縫寬度12μm，精細(xì)的入射狹縫有效地過濾掉不必要的雜光，避免探測(cè)器接收光強(qiáng)過于飽和，降低元素間光強(qiáng)干擾值。入射狹縫示意圖

? 光源透鏡：采用石英玻璃材質(zhì)MgF2渡層，保證C、S、P、N等紫外波長(zhǎng)透過光強(qiáng)強(qiáng)，使紫外短波測(cè)量結(jié)果更為可靠。

? 探測(cè)器：采用CCD探測(cè)器，最多安裝16塊CCD，采用上下錯(cuò)位布局，不同波長(zhǎng)之間沒有間隙，使光譜波長(zhǎng)成為一整體，實(shí)現(xiàn)全譜覆蓋，滿足客戶對(duì)多元素測(cè)試需求。

? 凹面光柵：2400gr/mm，色散率倒數(shù)：0.47nm/mm（1級(jí)），凹面光柵可以減少吸收現(xiàn)象，只存在光柵面一次反射的光損失，且無色差，提升真空紫外光譜效果。

? 分析時(shí)間：依樣品種類而不同，一般一次分析用時(shí)少于40秒。

? 激發(fā)光源：數(shù)字化激發(fā)光源，多種激發(fā)條件可調(diào)，滿足不同材質(zhì)的分析需求。

? 測(cè)光方式：V-F法

? 控制系統(tǒng)：采用FPGA技術(shù)控制儀器工作狀態(tài)。

? 尺寸大?。?/span>890*560*515 mm

? 激發(fā)電極：采用高純度鎢電極，此高純度鎢電高強(qiáng)度、耐腐蝕、耐高溫氧化優(yōu)點(diǎn)，降低儀器使用過程中儀器參數(shù)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的影響。

? 儀器重量：約60kg；

? 消耗功率：1.0kW；

? 真空要求：5～12 Pa；

? 氬氣模塊：分析流量4 L/min；待機(jī)流量0.1 L/min；

優(yōu)秀的節(jié)氬技術(shù)：保證客戶日常使用氬氣需求量的降低，減少企業(yè)使用成本。

智能、優(yōu)良的氣路監(jiān)控：激發(fā)前，監(jiān)控系統(tǒng)確保樣品夾、樣品和火花臺(tái)形成回路，確?；鸹ㄊ颐芊?、不漏氣。確保樣品表面平整度達(dá)到要求。激發(fā)后，脈沖式氬氣吹掃，提升粉塵去除效果，確保儀器的短期和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

? 操作系統(tǒng)：采用品牌計(jì)算機(jī)質(zhì)量更可靠，操作軟件系統(tǒng)OwindLab，計(jì)算算法結(jié)合優(yōu)異的硬件系統(tǒng)大幅度提升儀器的性能。

1 .實(shí)驗(yàn)室環(huán)境要求

? 溫    度：（20～30）℃，允許的最大溫度變化： ±2 ℃/小時(shí)；

? 相對(duì)濕度：（20～80）%，無水汽凝結(jié)；

? 防震要求：儀器工作場(chǎng)所應(yīng)防止震動(dòng)，如周邊有較大震動(dòng)，宜采取減震措施；

? 潔凈要求：實(shí)驗(yàn)室保持清潔，盡可能不與酸堿等腐蝕性物質(zhì)在一起；

? 屏蔽要求：防止電磁干擾，環(huán)境存在強(qiáng)電磁場(chǎng)時(shí)，實(shí)驗(yàn)室宜采取屏蔽措施；

? 氬氣要求：≥99.999%，含氧量不超過2mg/L；

? 電源要求：220V(±10%)，電流10A，單相50Hz；

? 接地電阻：＜4Ω。

2 .軟件介紹：全譜直讀火花光譜儀擁有清晰簡(jiǎn)潔的軟件操作界面，針對(duì)不同文化層次及不同年齡段做出了優(yōu)化改善，使操作人員更易上手，操作更簡(jiǎn)潔。

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