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MIFE 500 QNix薄鍍層測(cè)厚儀探頭

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上海神洲聯(lián)測(cè)實(shí)業(yè)有限公司專注于儀器儀表銷售主營:存儲(chǔ)記錄儀,溫度記錄儀,溫度濕度記錄儀,電能質(zhì)量分析儀,電流鉗表,萬用表,示波器,兆歐表、微歐表、信號(hào)源,電源,過程校準(zhǔn)儀、紅外測(cè)溫儀、熱像儀、頻閃儀、轉(zhuǎn)速表、照度計(jì)、涂層測(cè)厚儀,超聲波測(cè)厚儀,測(cè)振儀,硬度計(jì)、風(fēng)速儀,水質(zhì)分析儀,酸度計(jì)、溫濕度儀、電子天平等。擁有豐富的產(chǎn)品線,涵蓋了國內(nèi)外品牌的各類儀器儀表設(shè)備。我們致力于為客戶提供高品質(zhì)、高精度、高性能的儀器儀表,以滿足不同行業(yè)客戶在科研、生產(chǎn)、檢測(cè)等各個(gè)領(lǐng)域的需求。公司擁有一支專業(yè)的銷售團(tuán)隊(duì),他們具備豐富的行業(yè)知識(shí)和銷售經(jīng)驗(yàn),能夠?yàn)榭蛻籼峁I(yè)的產(chǎn)品咨詢和解決方案。我們以客戶為中心,注重與客戶的溝通和合作,深入了解客戶的需求,為客戶提供個(gè)性化的服務(wù)。在售后服務(wù)方面,我們擁有一支技術(shù)優(yōu)秀的售后團(tuán)隊(duì),能夠及時(shí)響應(yīng)客戶的需求,為客戶提供安裝調(diào)試、維修保養(yǎng)、技術(shù)培訓(xùn)等的服務(wù)。我們以優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)贏得了客戶的信賴和好評(píng)。上海神洲聯(lián)測(cè)實(shí)業(yè)有限公司將始終秉承“誠信、專業(yè)、創(chuàng)新、共贏”的經(jīng)營理念,不斷提升自身的實(shí)力和競爭力,為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)。我們?cè)概c廣大客戶攜手共進(jìn),共創(chuàng)美好未來。

 

 

 

存儲(chǔ)記錄儀,電力質(zhì)量分析儀,電力計(jì),功率計(jì),兆歐表,硬度計(jì),測(cè)厚儀,涂層測(cè)厚儀,探傷儀,紫外線燈,測(cè)振儀,測(cè)力計(jì),轉(zhuǎn)速表,紅外熱像儀,紅外測(cè)溫儀,溫度計(jì),溫濕度記錄儀,噪音計(jì),網(wǎng)速儀,照度計(jì),酸度計(jì),示波器,電源,信號(hào)源,萬用表,鉗表,等各種工業(yè)檢測(cè)儀器

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,印刷包裝,冶金,汽車,綜合

QNix薄鍍層測(cè)厚儀探頭MIFE500詳細(xì)技術(shù)參數(shù)、性能特點(diǎn):

QNix 薄鍍層測(cè)厚儀探頭 MIFE500 是一款由德國公司研發(fā)的高精度磁感應(yīng)探頭,專為測(cè)量很薄涂鍍層厚度而設(shè)計(jì)。以下是其詳細(xì)介紹:

測(cè)量原理及適用范圍

采用磁感應(yīng)原理,可測(cè)量所有磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層,如鋼鐵等基體上的鍍鉻、鍍銅、鍍鋅以及漆、搪瓷或塑料涂層等。

性能參數(shù)

  • 測(cè)量范圍:為 0-500μm,能滿足大多數(shù)薄鍍層測(cè)量需求。

  • 反應(yīng)速度:1600ms,可快速獲取測(cè)量結(jié)果。

  • 重復(fù)精度:可達(dá) ±(0.1μm+0.8% 讀數(shù)),測(cè)量重復(fù)性好,數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠。

  • 測(cè)量精度:為 ±(0.3μm+2% 讀數(shù)),能提供高精度的測(cè)量結(jié)果。

  • 最小測(cè)量面積:是直徑 7mm 的圓,可對(duì)較小區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。

  • 最小曲率半徑:凸半徑 4mm,凹半徑 5mm,能適應(yīng)一定弧度的表面測(cè)量。

  • 操作溫度:在 0-50℃之間,可在較寬的溫度范圍內(nèi)正常工作。

QNix薄鍍層測(cè)厚儀探頭其他特點(diǎn)

  • 高分辨率:分辨率高達(dá) 0.01μm,可精確測(cè)量極薄的涂鍍層厚度。

  • 小巧輕便:尺寸為 120mm×12mm×12mm,重量僅 95g,便于攜帶和操作,可在不同工作環(huán)境中靈活使用。

  • 配套工作臺(tái):為減少人為操作誤差,可搭配工作臺(tái)使用,在測(cè)量釘子、螺栓等小工件時(shí)效果尤為明顯,能有效提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

QNix薄鍍層測(cè)厚儀探頭



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