HPXRF-JPS300 礦產(chǎn)分析 新能源鋰電三元前驅(qū)體元素分析儀
- 公司名稱 深圳市恩陽電子有限公司
- 品牌 佳譜科技
- 型號 HPXRF-JPS300
- 產(chǎn)地 昆山
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2025/2/14 16:02:26
- 訪問次數(shù) 16
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,農(nóng)業(yè),地礦,能源,綜合 |
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礦產(chǎn)分析 新能源鋰電三元前驅(qū)體元素分析儀適用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余種元素快速檢測;
JPS300高精度X射線熒光元素分析儀
一、產(chǎn)品簡介
JPS300高精度X射線熒光元素分析儀適用于礦物粉末及浸提液體中多種元素的高精度分析,尤其在新能源材料領(lǐng)域表現(xiàn)出色。該設(shè)備采用基本參數(shù)法校正基體,能在幾分鐘內(nèi)提供準(zhǔn)確的檢測結(jié)果,并具備多條內(nèi)置曲線和FP計算方法,適用于各種基體分析。其主要特點(diǎn)包括高精度、快速檢測、觸摸屏操作、數(shù)據(jù)存儲能力強(qiáng)以及支持無線傳輸?shù)裙δ?,廣泛應(yīng)用于電池新材料等行業(yè)中的元素成分監(jiān)測和產(chǎn)品質(zhì)量控制。
高精度X射線熒光元素分析儀
三元前驅(qū)體多元素分析
產(chǎn)品介紹
◆ JPS300儀器可以針對各種類型的礦物粉末及礦物浸提液體中多種元素進(jìn)行高精度分析,可高效快速進(jìn)行礦樣品質(zhì)評價。
◆ 對各種類型的礦物通過基本參數(shù)法對基體進(jìn)行校正,樣品直接檢測即可得到高精度的測試結(jié)果,與實(shí)驗室測試結(jié)果高度一致。
◆ 快速準(zhǔn)確分析礦物中鈉、鎂、鋁、硅、鈣、硫、磷、氯、鐵、鈷、銅、錳等元素含量。
◆ 內(nèi)置多條曲線,FP(基本參數(shù))計算方法、可針對不同基體分析。
◆ 針對材料中微量元素、主量元素進(jìn)行準(zhǔn)確定量分析;應(yīng)用于不同形態(tài)的硫酸鈷、硫酸錳、硫酸鎳等樣品分析,如液體、固體粉末等。
礦產(chǎn)分析 新能源鋰電三元前驅(qū)體元素分析儀JPS300儀器主要是用于元素、化學(xué)溶液和產(chǎn)品純度的準(zhǔn)確定量分析,在新能源材料領(lǐng)域可應(yīng)用于多個生產(chǎn)工藝環(huán)節(jié)和最終產(chǎn)品質(zhì)量的監(jiān)測控制,特別對Mg、Al、Si、 P、S 、Cl 、K 、Ca等元素含量具有理想分析,可提供重要參考數(shù)據(jù)。
多元素應(yīng)用
JPS300滿足高濃度硫酸鈷溶液中Si S Cl K Ca Cr Mn Fe Cu Zn Ni As Pb等元素的高精度定量檢測,適用于鎳、鈷、錳原料礦樣和三元前驅(qū)體粉末快速準(zhǔn)確檢測。
檢出限
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品特點(diǎn)
◆ 五分鐘內(nèi)可得到樣品中目標(biāo)元素準(zhǔn)確結(jié)果。
◆ 先進(jìn)的單波長激發(fā)技術(shù)及軟件算法,大幅提高檢測精度、減少測試誤差。
◆ 采用嵌入式系統(tǒng),高分辨率液晶顯示觸摸屏,結(jié)合數(shù)字多道技術(shù),有效提升數(shù)據(jù)傳輸和運(yùn)算能力。
◆ 電池新材料生產(chǎn)工藝過程中溶液元素成分的快速和實(shí)時監(jiān)測,及時掌握溶液關(guān)鍵元素和雜質(zhì)元素的含量變化情況,保證生產(chǎn)質(zhì)量受控。
◆ 電池新材料行業(yè)精礦原料中元素成分的快速準(zhǔn)確監(jiān)測,及時獲取原料的品質(zhì)參數(shù)信息。
◆ 新材料三元前驅(qū)體的快速準(zhǔn)確定量檢測,確保產(chǎn)品質(zhì)量。
◆ 數(shù)據(jù)導(dǎo)出專業(yè)、全面、可進(jìn)行Excel編輯。
◆ 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)存儲能力,能夠連續(xù)存儲至少10000次檢測記錄。
◆ 支持藍(lán)牙打印功能、支持4G、5G遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)傳輸。
◆ 儀器有自動保護(hù)功能,當(dāng)進(jìn)樣艙開啟時,可自動斷開。
分析曲線圖
120g/L硫酸鎳溶液基質(zhì)中0-10mg/L的Ca元素擬合形成的標(biāo)準(zhǔn)曲線
電源 | 110-240 VAC,50-60 Hz |
檢材 | 液體、固體粉末等 |
測量方法 | 高精度X射線熒光光譜法HDXRF |
測量范圍 | 鈉、鎂、鋁、硅、鈣、硫、磷、氯、鐵、鈷、銅、錳等多種元素 |
晶體 | DCC(雙曲面彎晶)晶體實(shí)現(xiàn)激發(fā)X射線單色化聚焦,優(yōu)化提高元素檢出限和定量精度 |
電子元件 | 處理器不低于1.2GB四核處理器 64位、1GB RAM;4096道高性能MCA;自主開發(fā)數(shù)據(jù)分析系統(tǒng); |
探測器 | 高效快速硅漂移Fast SDD 探測器 |
光學(xué)系統(tǒng) | HDXRF技術(shù)構(gòu)架下的單色聚焦系統(tǒng) |
工作溫度 | -5℃~50℃ |
環(huán)境濕度 | 相對濕度≤70% |
語言 | 中/英文語言切換 |
重量 | ≤9Kg |
尺寸 | 325mm(W)×322mm(L)×26mm(H) |