LCR-8220/8220A 固維LCR-8200/A系列高頻LCR測試儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海神洲聯(lián)測實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 GWINSTEK/中國臺(tái)灣固緯
- 型號(hào) LCR-8220/8220A
- 產(chǎn)地 中國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2025/3/1 20:37:25
- 訪問次數(shù) 59
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存儲(chǔ)記錄儀,電力質(zhì)量分析儀,電力計(jì),功率計(jì),兆歐表,硬度計(jì),測厚儀,涂層測厚儀,探傷儀,紫外線燈,測振儀,測力計(jì),轉(zhuǎn)速表,紅外熱像儀,紅外測溫儀,溫度計(jì),溫濕度記錄儀,噪音計(jì),網(wǎng)速儀,照度計(jì),酸度計(jì),示波器,電源,信號(hào)源,萬用表,鉗表,等各種工業(yè)檢測儀器
測量頻率 | 10Hz-30MHzHz | 測量速度 | 最快:2.5ms(>10kHz),快速:50ms(>20Hz),中速:100ms |
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測量準(zhǔn)確度 | ±0.08%% | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
類型 | 高速LCR測量儀 | 外形尺寸 | 346(W) x145(H) x 335(D)mm |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 | 重量 | 約3.3kg |
LCR-8220/8220A固維LCR-8200/A系列高頻LCR測試儀的詳細(xì)技術(shù)參數(shù)、性能特點(diǎn):
LCR-8220/8220A固維LCR-8200/A系列高頻LCR測試儀,是應(yīng)對(duì)高頻電子元件復(fù)雜測量需求的得力工具,在電子領(lǐng)域的研發(fā)、生產(chǎn)等環(huán)節(jié)發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
一、全面的測量能力
頻率覆蓋特性:頻率范圍設(shè)定在 1MHz 至 30MHz,這一區(qū)間對(duì)眾多高頻電子元件而言意義重大。在無線通信領(lǐng)域,如藍(lán)牙、ZigBee 等低功耗無線通信模塊,其內(nèi)部的電感、電容元件工作在該高頻段,元件參數(shù)的精準(zhǔn)測量對(duì)優(yōu)化通信模塊性能、保障信號(hào)穩(wěn)定傳輸至關(guān)重要。LCR - 8220/8220A 可在此頻率范圍內(nèi)精確測量元件參數(shù),助力工程師深入了解元件特性,提升無線通信產(chǎn)品的質(zhì)量與穩(wěn)定性。例如在藍(lán)牙 4.0 模塊設(shè)計(jì)中,通過該測試儀對(duì)關(guān)鍵電感、電容的測量,能有效改善模塊的抗干擾能力和通信距離。
多參數(shù)精準(zhǔn)測定:能夠精確測量電感(L)、電容(C)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、品質(zhì)因數(shù)(Q)、損耗因數(shù)(D)、相位(θ)以及直流電阻(Rdc)等多種參數(shù)。以高頻電容為例,在開關(guān)電源的濾波電路中,電容的容值、損耗因數(shù)等參數(shù)直接影響電源輸出的穩(wěn)定性和純凈度。LCR - 8220/8220A 可同時(shí)準(zhǔn)確測量這些參數(shù),為開關(guān)電源的設(shè)計(jì)優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持,確保電源在高頻工作狀態(tài)下高效運(yùn)行。
二、高精度與高分辨率
高分辨率顯示:主顯示器和輔助顯示器均具備 50,000 計(jì)數(shù)分辨率,基本精度可達(dá) 0.1%。在測量高精度電感時(shí),高分辨率能清晰呈現(xiàn)電感值的細(xì)微變化,0.1% 的高精度確保測量結(jié)果與真實(shí)值高度吻合。在醫(yī)療電子設(shè)備、航空航天電子系統(tǒng)等對(duì)元件參數(shù)精度要求高的領(lǐng)域,LCR - 8220/8220A 的高精度測量能力可有效保障設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。例如在醫(yī)用核磁共振成像設(shè)備的射頻電路中,對(duì)電感、電容等元件參數(shù)的微小偏差都可能影響成像質(zhì)量,該測試儀的高精度測量為設(shè)備的精準(zhǔn)運(yùn)行提供了堅(jiān)實(shí)保障。
靈活測量模式與速度:支持 2 線或 5 線測量方式,可根據(jù)不同元件類型和測試場景靈活選擇。測量速度具有多種模式,快速模式下每秒可進(jìn)行 10 次測量,適用于大規(guī)模生產(chǎn)線上元件的快速篩選,能大幅提高檢測效率,降低生產(chǎn)成本。在電子元件生產(chǎn)企業(yè)的自動(dòng)化生產(chǎn)線上,利用快速測量模式可快速排查出大量元件中的不良品。而在研發(fā)測試場景中,當(dāng)對(duì)測量精度要求高且時(shí)間相對(duì)充裕時(shí),可選擇慢速模式,每秒測量 2.5 次,以獲取更為精準(zhǔn)的測量結(jié)果,滿足科研人員對(duì)新型電子元件特性研究的需求。
三、豐富實(shí)用的功能特性
自動(dòng)元件識(shí)別:具備智能的自動(dòng)元件類型識(shí)別功能,進(jìn)入自動(dòng) LCZ 模式后,儀器可迅速判斷接入的是電感、電容還是電阻元件,并自動(dòng)匹配測量模式。在電子維修工作中,面對(duì)復(fù)雜電路板上種類繁多的元件,維修人員使用 LCR - 8220/8220A 時(shí),無需手動(dòng)繁瑣判斷元件類型并設(shè)置測量模式,儀器的自動(dòng)識(shí)別功能極大簡化了操作流程,能夠快速確定故障元件參數(shù),顯著提高維修效率。例如在維修智能家電主板時(shí),可快速準(zhǔn)確地測量各類電感、電容元件,幫助維修人員快速定位故障元件。
可選測試電平:提供 AC 0.3V/0.7V/1Vrms 和 DC±1V 等多種可選測試電平。不同電子元件的耐壓特性差異顯著,對(duì)于低耐壓電容,選擇較低的測試電平可有效避免因電壓過高而損壞元件;而對(duì)于高耐壓元件,選用合適的高電平進(jìn)行測試,能夠使測量結(jié)果更準(zhǔn)確地反映元件在實(shí)際工作電壓下的性能。在電容器生產(chǎn)過程中,針對(duì)不同耐壓等級(jí)的電容產(chǎn)品,可靈活調(diào)整測試電平,確保測量的準(zhǔn)確性與元件的安全性。例如在生產(chǎn)用于手機(jī)主板的低耐壓貼片電容時(shí),可選擇 AC 0.3V 的測試電平進(jìn)行測量,而對(duì)于工業(yè)變頻器中使用的高耐壓電解電容,則可選用 DC 1V 的測試電平。
比較與數(shù)據(jù)保持:配備比較功能,用戶可預(yù)先設(shè)定元件參數(shù)的合格范圍,在測量過程中,儀器能夠快速判斷元件是否符合預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)。在電子元件批量生產(chǎn)檢測環(huán)節(jié),通過該功能可快速篩選出不良品,有效提高生產(chǎn)質(zhì)量控制效率。數(shù)據(jù)保持功能可將測量數(shù)據(jù)鎖定,方便用戶在復(fù)雜實(shí)驗(yàn)環(huán)境或繁忙的生產(chǎn)線上及時(shí)記錄和查看數(shù)據(jù),避免數(shù)據(jù)遺漏。在實(shí)驗(yàn)過程中,研究人員可隨時(shí)鎖定關(guān)鍵測量數(shù)據(jù),便于后續(xù)深入分析。例如在對(duì)新型電子元件進(jìn)行多組實(shí)驗(yàn)測量時(shí),可利用數(shù)據(jù)保持功能記錄不同條件下的測量數(shù)據(jù),為研究元件性能變化規(guī)律提供依據(jù)。
四、便捷的接口與軟件支持
豐富接口配置:配備 USB 接口,包括 USB - HID 和 USB - VCOM 接口。借助 USB - HID 接口,可方便地與計(jì)算機(jī)等設(shè)備連接,實(shí)現(xiàn)高效的數(shù)據(jù)傳輸與遠(yuǎn)程控制。在自動(dòng)化測試系統(tǒng)中,計(jì)算機(jī)通過該接口向 LCR - 8220/8220A 發(fā)送指令,控制儀器完成一系列測量操作,并實(shí)時(shí)獲取測量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理。USB - VCOM 接口則為設(shè)備間的通信提供了便利,有助于其融入復(fù)雜的自動(dòng)化測試生產(chǎn)線,實(shí)現(xiàn)多設(shè)備協(xié)同工作,提升整體測試效率。在大規(guī)模電子元件生產(chǎn)企業(yè)的自動(dòng)化測試車間中,多臺(tái) LCR - 8220/8220A 可通過 USB 接口與中央控制系統(tǒng)連接,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化、智能化的批量測試。
軟件支持:提供免費(fèi)的 PC 軟件,且軟件指令與 SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments)兼容。這使得用戶能夠根據(jù)自身需求編寫個(gè)性化軟件,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集與分析的定制化。在科研項(xiàng)目中,研究人員可利用該兼容性,編寫特定軟件,對(duì)測量數(shù)據(jù)進(jìn)行深度挖掘與分析,探索元件參數(shù)與特定實(shí)驗(yàn)條件之間的內(nèi)在關(guān)聯(lián)規(guī)律,為科研工作提供有力的數(shù)據(jù)支持與決策依據(jù)。例如在研究新型半導(dǎo)體材料制成的電子元件特性時(shí),可編寫專門的軟件對(duì)大量測量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析,找出元件參數(shù)與材料特性、環(huán)境因素之間的關(guān)系,為材料的優(yōu)化和元件的改進(jìn)提供參考。