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白光干涉顯微鏡及物鏡——三豐Mitutoyo

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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上海昊量光電設(shè)備有限公司  
Aunion Tech Co., Ltd
專業(yè)源自專注  專注成就未來

自2008年成立以來,昊量光電專注于光電領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)與產(chǎn)品經(jīng)銷,致力于引進(jìn)guo外*先進(jìn)性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品,為國內(nèi)Z前沿的科研與工業(yè)領(lǐng)域提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前,昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系。其代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、精密光學(xué)元件等,所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究與國防等。

昊量光電堅持“專業(yè)源自專注,專注成就未來”的經(jīng)營理念。近年來,我們專注于前沿的細(xì)分市場,為量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進(jìn)激光制造等領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。

作為一家以技術(shù)溝通與技術(shù)服務(wù)見長的高科技企業(yè),我們所有的銷售與技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊成員都具有理工科方面的專業(yè)背景,并在公司接受相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)培訓(xùn),在售前技術(shù)溝通、售后產(chǎn)品安裝培訓(xùn)、產(chǎn)品問題解決、軟硬件增值服務(wù)等方面為客戶提供更加專業(yè)化的服務(wù)!我們專業(yè)高效的商務(wù)與物流部門憑借多年積累的貿(mào)易經(jīng)驗與規(guī)范化的制度流程,保障每一筆訂貨準(zhǔn)時安全到達(dá)目的地,免除客戶的后顧之憂!

秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價值觀,昊量光電堅持以誠信為基石,憑借高效的運(yùn)營機(jī)制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價值,實現(xiàn)各方共贏!

立足于光電產(chǎn)業(yè),昊量光電始終堅持價值創(chuàng)造與創(chuàng)新,贏得客戶與合作伙伴的認(rèn)可,不斷拓展業(yè)務(wù)領(lǐng)域的新邊疆,立志打造的代理服務(wù)品牌!

 

激光器調(diào)制器,激光測量加工設(shè)備,光學(xué)部件,光譜儀,光纖器件,晶體,精密定位系統(tǒng)掃描系統(tǒng),探測器光子計數(shù)器,專用實驗設(shè)備,相機(jī)

供貨周期 現(xiàn)貨 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合

WLI白光干涉顯微鏡及物鏡——三豐Mitutoyo


三豐Mitutoyo新推出具有更高干涉信號對比度,可以同時測高反射率部分和低反射率部分樣品的白光干涉顯微鏡及物鏡。


白光干涉顯微鏡及物鏡——三豐Mitutoyo特點(diǎn):

● 實現(xiàn)非接觸式3D表面形狀測量和輪廓測量

可利用白光干涉原理實現(xiàn)非接觸式高精度細(xì)微表面性狀測量

(例如:3D形狀測量、3D粗糙度測量)

● 不依賴于光學(xué)倍率的高度測量精度

即使是低倍率鏡頭,也可使用Z向高分辨力進(jìn)行測量

● 高縱橫比測量

不依賴于光學(xué)系統(tǒng)的NA進(jìn)行檢測,支持高縱橫比形狀測量

● 抗干擾震動的高穩(wěn)定性

● 小型輕便


使用一般的WLI系統(tǒng),測量不同反射率的產(chǎn)品時:

當(dāng)視野中包含高反射率和低反射率的部分

 1)配合反射率高的部分調(diào)整光量時,反射率低的部分會光量不足。

 2)配合反射率低的部分調(diào)整光量時,反射率高的部分光量發(fā)生飽和,無法測量。

而使用三豐的WLI測量反射率不同地方的測量時,當(dāng)視野中包含反射率高部分和反射率低部分,光量對準(zhǔn)反射率低的部分,也可測量反射率高的部分。


白光干涉顯微鏡及物鏡—— 三豐Mitutoyo產(chǎn)品規(guī)格:


貨號554-001554-002554-003
產(chǎn)品名稱WLI-Unit-003WLI-Unit-005WLI-Unit-010
WLI-Unit傳感器測頭電纜長度5
適用物鏡WLI Plan Apo系列
成像倍率
焦距f(mm)100
掃描裝置物鏡掃描儀
尺寸/質(zhì)量108×68×191mm/1.7kg
WLI測量Z向移動范圍8000 um
測量模式高通量標(biāo)準(zhǔn)高分辨率
WLI測量Z向范圍2100 um1900 um1700 um
通量 @ 20um范圍3 s4 s6 s
Z向分辨率 -4 nm
Z向重復(fù)性 -40 nm
軟件WLIPAKWLI-Unit控制庫SDK、示例代碼、WLIPAK示例GUI
WLI-Unit校準(zhǔn)SW像素校準(zhǔn)
分析軟件(推薦選件)MCubeMap
其它圖像采集卡/PCMatrox圖像采集卡(標(biāo)配)/另需準(zhǔn)備PC



白光干涉顯微鏡及物鏡—— 三豐Mitutoyo案例:



白光干涉測量用物鏡WLI Plan Apo


白光干涉顯微鏡及物鏡—— 三豐Mitutoyo產(chǎn)品特點(diǎn):

  • 與WLI-Unit配套的新設(shè)計

  • 確保長工作距離,小型輕量化(齊焦距離60mm)

  • 高NA,高分辨力

  • 平場復(fù)消色差

  • 物鏡內(nèi)部搭載分光器和參考鏡

  • 標(biāo)配干涉條紋調(diào)整裝置



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