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TEM用氧化硅薄膜窗口/窗格/支撐膜

參考價 ￥ 120
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

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上海昭沅儀器設備有限公司，代理多項世界*公司的表面形貌測試產品，擁有一支由經驗豐富的銷售人員和技術人員組成的團隊，著重為各高校，研究所等單位提供完整的實驗室科研儀器設備。    

    公司倡導以客戶為中心的專家式營銷模式，關注產品和服務的每一個細節(jié)，吸引了一批中青年專業(yè)人才，組成了充滿活力的技術開發(fā)和經營管理隊伍，通過與大量用戶的良好互動，穩(wěn)步建立起完善的市場網絡和*平臺。為進一步提升產品品質，公司組織專門人員建立企業(yè)標準，由上海市技術*備案，保證產品更具*的品質和優(yōu)異的穩(wěn)定性。 
    公司秉承“合作、服務、創(chuàng)新”的經營宗旨和服務理念，決心為客戶提供無微不致的關懷，為中國科技教學實踐、材料測試、生物醫(yī)學研究、微納機電系統研發(fā)等領域提供*的解決方案與咨詢服務。

 

各種光學顯微鏡,顯微鏡、勻膠機、等離子清洗機、干燥箱、探針式臺階儀輪廓儀,防震平臺,全光纖測試系統,凝固點測試儀,金屬相圖儀,電鏡耗材
 
名稱：氧化硅TEM窗口
編號：氧化硅
產品詳情：
透射電鏡（TEM）用氧化硅薄膜窗格
 
 
 
氧化硅與氮化硅薄膜窗格比較：
相比氮化硅薄膜，氧化硅薄膜更適合用于含氮樣本。在EDS研究中，如基片薄膜含氮，則會與樣本造成混淆。


樣本安置面：
對多數用戶來說，樣本應安置在薄膜窗格的“覆膜面”而非“蝕坑面”。但我們也知道在一些特殊情況下，蝕坑面也可安置樣本。除對樣本進行原子力顯微鏡（AFM）觀測外，蝕坑面本質上并非不可用于放置樣本。實際上，沒有一個顯微鏡的懸臂可以伸至蝕坑內“看清”薄膜表面。
 
產品規(guī)格：
 
 
氧化硅薄膜窗特點：
 
清洗：采用等離子清洗，無有機物殘留，改善成像質量；
均勻性：減少了不同區(qū)域的不均勻性；
穩(wěn)定性： 耐高溫，>1000℃；
良好的化學穩(wěn)定性：圖像分辨率和機械強度達到理想的平衡；
化學計量比的SiO2：可用于氮氣環(huán)境下的EDX分析；
 
氧化硅薄膜窗規(guī)格
 
窗口類型
薄膜厚度
窗口尺寸
框架尺寸
框架厚度
報價/USD
20nm
2x1陣列，100X1500µm
Φ3mm
200µm
￥120.00
40nm
2x1陣列，100X1500µm
Φ3mm
200µm
￥150.00
20nm
3x3陣列，窗口100X100µm
Φ3mm
200µm
￥200.00
40nm
3x3陣列，窗口100X100µm
Φ3mm
200µm
￥150.00
8nm
窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24個網格，網格大小70x70µm
Φ3mm
200µm
￥425.00
18nm
窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24個網格，網格大小60x60µm
Φ3mm
200µm
￥350.00
40nm
窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24個網格，網格大小50x50µm
Φ3mm
200µm
￥295.00
 
氧化硅與氮化硅薄膜窗格比較：
相比氮化硅薄膜，氧化硅薄膜更適合用于含氮樣本。在EDS研究中，如基片薄膜含氮，則會與樣本造成混淆。
 
優(yōu)點：
  • SEM應用中，薄膜背景不呈現任何結構和特點。
  • x-射線顯微鏡中，裝載多個分析樣的*方法。
  • 無氮
 
應用：
氧化硅薄膜應用范圍非常廣，甚至有時使不可能變?yōu)榭赡埽袘枚加袩o氮要求（因樣本中有氮存在）：
● 惰性基片可用于高溫環(huán)境下，通過TEM、SEM或AFM（某些情況下）對反應進行動態(tài)觀察。
● 作為耐用（如“強力”）基片，首先在TEM下，然后在SEM下對同一區(qū)域進行“匹配”。
● 作為耐用匹配基片，對AFM和TEM圖像進行比較。
● 聚焦離子束（FIB）樣本的裝載，我們*使用多孔薄膜，而非不間斷薄膜。
 
氧化硅薄膜TEM網格操作使用：
如果正確操作，氧化硅薄膜將會擁有非常好的性能。相反，若用工具直接接觸薄膜，則會即刻損壞薄膜。為防損壞，可用尖嘴鑷子小心夾取，就像夾取其他TEM網格一樣。 
 
使用前清潔：
    氧化硅薄膜窗格在使用前不需進行額外清潔。有時薄膜表面邊角處會散落個別氧化物或氮化物碎片。由于單片網格需要從整個硅片中分離，并對外框進行打磨，因此這些微小碎片不可避免。盡管如此，我們相信這些碎片微粒不會對您的實驗產生任何影響。

    如果用戶確實需要對這些碎片進行清理，我們建議用H2SO4 : H2O2 （1:1）溶液清潔有機物，用H2O:HCl: H2O2 （5:3:3）溶液清潔金屬。

    通常不能用超聲波清洗器清潔薄膜，因超聲波可能使其粉碎性破裂。

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