WLI Lab 進(jìn)口德國(guó)BMT WLI Lab 白光干涉儀 干涉儀

進(jìn)口德國(guó)BMT WLI Lab 白光干涉儀 干涉儀

       WLI測(cè)量系統(tǒng)是為準(zhǔn)確測(cè)量表面輪廓、粗糙度、臺(tái)階高度、微觀結(jié)構(gòu)和其它表面參數(shù)而設(shè)計(jì)，可滿足電子、汽車、制造工業(yè)的使用需求。擴(kuò)展的顯微鏡模式能使用戶獲得具有以下特點(diǎn)的3D圖像，對(duì)圖像縮放、釘合、標(biāo)記無效值、選擇視場(chǎng)等操作。
測(cè)量和評(píng)估軟件可自動(dòng)測(cè)量，用戶可從表面圖像中選取和處理輪廓線。

進(jìn)口德國(guó)BMT WLI Lab 白光干涉儀 干涉儀 干涉儀的主要用途：
◆ 粗糙和光滑表面的顯微研究和測(cè)試
◆ 產(chǎn)品凸凹結(jié)構(gòu)圖
◆ 可根據(jù)特殊用途定制

的主要特點(diǎn)：
◆ 實(shí)現(xiàn)對(duì)光滑和粗糙表面測(cè)量
◆ 不用訂合可達(dá)到測(cè)量區(qū)域?yàn)?cm2
◆ 具有快速物鏡切換功能
◆ 橫向分辨率可達(dá)1um，垂直分辨率zui高可到1nm
◆ 測(cè)量結(jié)果與色彩和材料無關(guān)
◆ 能實(shí)現(xiàn)秒級(jí)的快速測(cè)量

的主要優(yōu)點(diǎn)：
◆ 表面結(jié)構(gòu)的快速分析
◆ 測(cè)量結(jié)果與材料表面性能無關(guān)
◆ 自動(dòng)數(shù)據(jù)采集和評(píng)估

的技術(shù)數(shù)據(jù)：
光源：LED
測(cè)量范圍（µm）：100/150

垂直分辨率（nm）：＜1
橫向分辨率（µm）：≥0.2

光圈：0.95

測(cè)量面積（µm）：90*70

圖像尺寸（Pixel）：1280*1024

詳情請(qǐng)登陸
佰匯興業(yè)（北京）科技有限公司  www.bhxytech.com   或
  咨詢訂購(gòu)！