梅特勒-托利多 XP/XS系列分析天平/電子天平

梅特勒-托利多XP/XS分析天平快速安全的滿足所有稱量需求。其中，XP分析天平具有全面的質(zhì)量管理工具（QM），滿足質(zhì)量保證的要求，特別適合于例如制藥行業(yè)的嚴(yán)格法規(guī)環(huán)境。而XS分析天平，配合其創(chuàng)新選件，為快速高效的稱量過程設(shè)立了全新標(biāo)準(zhǔn)。

梅特勒-托利多XP/XS分析天平主要特點：
采用高精度高分辨率后置式傳感器，滿足用戶高精度的稱量需求；
具有中文界面的TFT彩色觸摸屏（SmartScreen）或觸摸屏（TouchScreen），實現(xiàn)安全、便捷的天平操作；
紅外感應(yīng)器（SmartSens）*，實現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作：開關(guān)門、打印、去皮等；
網(wǎng)格秤盤（SmartGrid），獲得快速、準(zhǔn)確的稱量結(jié)果；
水平控制系統(tǒng)（LevelControl）*，在天平偏移水平位置時提供警告提示功能；
專業(yè)級全自動校準(zhǔn)技術(shù)（proFACT）或全自動校準(zhǔn)技術(shù)（FACT）,溫度漂移和時間觸發(fā)的自動內(nèi)置砝碼校正和線性校正，獲得精確稱量結(jié)果；
zui小稱量值（MinWeigh）功能，提供符合法規(guī)的稱量幫助（需要梅特勒-托利多客戶服務(wù)工程師現(xiàn)場設(shè)置激活）；
天平校驗功能（BalanceCheck）*，自動提示用戶使用外部砝碼校正天平，確保稱量結(jié)果始終準(zhǔn)確；
顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕；
標(biāo)配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網(wǎng)、LocalCAN、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設(shè)備；
符合GxP規(guī)范的稱量結(jié)果輸出，獲得完整的、可追溯的稱量信息；
GWPExcellenceTM一體化安全功能，確保天平始終正確工作；

*僅XP天平

梅特勒-托利多XP/XS分析天平技術(shù)參數(shù)：
XP分析天平：量程120g~520g，可讀性0.01mg~0.1mg
XS分析天平：量程120g~220g，可讀性0.01mg~0.1mg

梅特勒-托利多XP/XS分析天平應(yīng)用領(lǐng)域:
梅特勒-托利多XP分析天平在例如需要符合美國藥典（USP）或GMP/GLP規(guī)范的制藥行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用，同時也是獲得至高稱量準(zhǔn)確度的*解決方案。而XS分析天平，則是食品化工行業(yè)，關(guān)注至高稱量效率，易于清潔的理想選擇。