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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網>產品展廳>分析儀器>光譜>紅外光譜(IR、傅立葉)>F-7600 硅材料氧碳含量測試儀

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F-7600 硅材料氧碳含量測試儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 杭州科博儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號 F-7600
  • 產地 杭州
  • 廠商性質 經銷商
  • 更新時間 2018/4/12 2:13:40
  • 訪問次數(shù) 3126

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


    杭州科博儀器有限公司是目前國內較大的實驗室分析儀器設備經銷及技術服務商之一,是集實驗室分析儀器生產、銷售、應用經驗的科技及管理精英創(chuàng)辦的高科技企業(yè)。多年的實驗室分析工作經歷,站在分析儀器較早技術前沿,強大的分析儀器設備技術服務的支持,致力于較早實驗室分析技術的研究與應用開發(fā),研發(fā)、生產和銷售適應國內外市場需求的分析儀器,并提供完善的技術支持和售后服務。

     杭州科博儀器有限公司專業(yè)經營:色譜儀、光譜儀、水份測定儀、實驗室純水機、電子天平、樣品處理設備等通用分析儀器及環(huán)境監(jiān)測、藥品檢驗、糧油食品檢驗等行業(yè)*分析儀器、實驗儀器設備等。同時,我們與廣大的儀器生產廠家及*進的儀器生產商建立了良好的關系,目前我公司經銷國內外品牌:日本島津、美國安捷倫、美國Waters、瑞士梅特勒,德國賽多利斯、美國泛美、上海精科、北京普析通用、溫嶺福立、山東魯南瑞虹、上海海欣、杭州科曉、中科院蘭化所、大連依利特、上海尤尼可、上海博迅、上海伍豐等等。我們將對部分大型儀器和設備如GC、HPLC、AAS、超純水系統(tǒng)等承擔儀器的安裝、調試及安裝調試后的技術操作培訓,讓每一位使用者都能使用得心應手;售后隨時解答用戶在使用過程中的各種技術和應用問題,確保每一件儀器都發(fā)揮較大的效用。 同時,我們將承擔大型儀器的保養(yǎng)、維修服務工作,確保每一件儀器的正常使用及保持Z佳的性能;在遇到問題時以Z快的速度解決。對于一般儀器及設備,我們提供一年的有限保修,并提供終身的有償維修服務。同時我們將為每一位用戶盡可能的寄送相關儀器及設備的較早技術維修及升級資料。我們設有專人為售后技術服務進行及時盡職的協(xié)調工作。

       公司專業(yè)經營及技術服務項目:

             氣相色譜儀(島津、安捷倫、上分、科曉、海欣、福立、魯南、天美等)

            液相色譜儀(Syltech系列、島津、安捷倫、Waters、依利特;伍豐及戴安)

            分光光度計(可見、紫外、原吸、熒光;紅外等)

            色譜工作站(色譜處理機)

            色譜儀*氣源(空氣、氫氣、氮氣及一體機發(fā)生器)

            色譜柱(液相色譜柱、毛細管色譜柱、不銹鋼/玻璃填充柱)色譜儀及處理機零配件、耗件及附件

           定期舉辦的色譜及工作站的培訓班色譜儀及其它分析儀器上門維修服務

            其它經銷產品:電化學儀器(酸度計、電導率儀、溶氧儀等)

          上海物理光學儀器廠:旋光儀、溶點儀、折射儀等

           其它實驗室儀器(天平、水分儀、粘度計、烘箱等)

          上海博迅實驗室儀器蒸餾水器、水浴、干燥箱等

島津氣相/液相色譜儀、島津色譜配件、水分測定儀、超純水器、分光光度計、電子天平、液相色譜柱、毛細管柱、酸度計、電導率儀、色譜氣源、旋光儀、熔點儀、折射儀......

   硅單晶/多晶中氧碳含量自動測量系統(tǒng)的氧碳含量技術參數(shù)符合(符合國家GB/T1557-2006)(符合國家GB/T1558-2009)

        測試方法:把測量樣品用硅片固定架放入儀器樣品室,開始測量,計算機讀取1107CM-1,SI-O-SI帶特征吸收峰和607CM-1, C-SI帶特征吸收峰,由峰高法計算出硅單晶中氧碳含量. 測量硅片厚度:0.04-4.0MM, 硅片檢測下限:1.0X1016CM-3(常溫)

 

類 別

儀 器 名 稱

型 號

技 術 參 數(shù) 及 配 置

數(shù) 量

 

 

系統(tǒng)

 

 

 

硅單晶/多晶中氧碳含量自動測量系統(tǒng)及反型N/P硅外延層厚度測量系統(tǒng)F-7600

 

氧碳

 

1.用于硅晶體中間隙中氧、碳含量測量。檢測下線1.0x1016CM-1  測量硅片厚度0.04-4.0MM(建議2.0MM厚度*)

符合國家標準(GB/T1557-2006)氧,(GB/T1558-2009)碳。

2.反型N/P硅外延層厚度的紅外干涉測量。(2009年第16屆全國半導體、硅材料學術會議的論文)

光譜范圍:7800~375 cm-1
  
率:1 cm-1
  
器:高靈敏度DTGS檢測器
  
器:多層鍍膜溴化鉀
  
掃描速度:微機控制和選擇不同的掃描速度
  
光   源:長壽命高強度空氣冷卻紅外光源
  
比:300001(測試條件:DTGS檢測器,在4 cm-1

分辨率,一分鐘背景及樣品掃描時間,2100 cm-1處)                         

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

操作系統(tǒng)

 

 

 

系統(tǒng)功能

 

用戶登錄功能                   自我診斷功能
數(shù)據處理功能                   譜圖匹配功能                               譜圖解析功能                   標準報告模板                                 標準文件格式                            

 提供操作及數(shù)據處理軟件,*升級軟件 智能濕度提醒裝置:無需開機可以更換干燥保護裝置,無需開機可以調節(jié)儀器能量

 

 

 

1

 

硅片樣品固定工具

 

 

1

檢測軟件

 

符合國家標準(GB/T1558-2009),(GB/T1557-2006

1

標準硅片

 

符合國家標準(GB/T1557-2006)標準硅片

1

 電腦及打印機

 

可通過打印機輸出結果及報告

1

 

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