CSL-III 三角試塊
參考價(jià) | ¥ 660 |
訂貨量 | ≥1 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海越磁電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) CSL-III
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2018/4/7 10:52:21
- 訪問次數(shù) 1287
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滲透探傷檢查,磁粉探傷檢測(cè),超聲波探傷檢測(cè),實(shí)驗(yàn)儀器儀表,實(shí)驗(yàn)電極,電化學(xué)儀器,光學(xué)儀器,
中華人民共和國*標(biāo)準(zhǔn)試塊
1. 公務(wù)探傷試塊,CSL-III試塊
CSL-III三角試塊,CSL-III試塊,可利用A孔測(cè)定70度探頭的靈敏度余量,也可用A,B孔校正橫波的探測(cè)范圍和基線。試塊中的直徑2.5mm橫通孔可作為檢驗(yàn)儀器的近區(qū)探測(cè)能力,參考圖片。
CSL-II三角試塊,主要利用直徑1.5平底孔對(duì)37度探頭靈敏度余量的測(cè)定。見圖片2
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