XY型 方塊電阻測(cè)試儀

概述

XY系列方塊電阻/電阻率測(cè)試儀，是智能型便攜式測(cè)量?jī)x器。是針對(duì)透明導(dǎo)電薄膜（如ITO玻璃）、電池導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電高分子薄膜、隔熱防輻射（透光）導(dǎo)電膜、導(dǎo)電屏蔽膜（層）、金屬濺

射膜（薄層）、導(dǎo)電布以及半導(dǎo)體材料的方塊電阻/電阻率測(cè)量而研制。儀器整機(jī)電路設(shè)計(jì)以的MCU技術(shù)為核心，實(shí)現(xiàn)智能化管理、控制整個(gè)工作過程，及時(shí)顯示儀器的正常與不正常狀

況，保證每次測(cè)量的正確和可靠。
儀器適用于科研、高校、生產(chǎn)、檢驗(yàn)等機(jī)構(gòu)對(duì)上述材料的測(cè)量。

儀器特點(diǎn)

■ 開機(jī)自動(dòng)檢測(cè)電源電壓，“過高”和“過低”時(shí)停止任何測(cè)量作業(yè)；
■ 自動(dòng)檢測(cè)、區(qū)分“外部電源”和“內(nèi)部電池”供電。外部電源時(shí)，自動(dòng)檢測(cè)內(nèi)部電池，并充電和補(bǔ)充充電，可同時(shí)測(cè)量作業(yè)。無需更換內(nèi)置電池；
■ 首先用低量程測(cè)量，超量程時(shí)，自動(dòng)轉(zhuǎn)換到高量程；
■ 提示測(cè)量值有效時(shí)刻；
■ 可內(nèi)置RS232通訊模塊。

 技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍：0.0000~19999Ω/□ （以儀器面板為準(zhǔn)。量程自動(dòng)調(diào)整）；
2.   測(cè)量誤差：≤±2％+3字；
3.   測(cè)量時(shí)間：< 2s/每次；
4.   開機(jī)時(shí)間：< 2s/每次；（開機(jī)初始化時(shí)間）
5.   探頭規(guī)格：配直排四點(diǎn)探針；（選配方形四點(diǎn)探針）
6.   電源規(guī)格：交/直流轉(zhuǎn)換穩(wěn)壓（專配），鋰電池（內(nèi)置，可充電）；
7.   整機(jī)重量：約250g（主機(jī)+測(cè)量筆）；
8.   外形尺寸：主機(jī)：190×90×31（mm）；測(cè)量筆長(zhǎng)：1200（mm）