北京華歐世紀光電技術(shù)有限公司

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[供應]Xstress DR45便攜式X射線殘余應力分析儀

貨物所在地:北京北京市

產(chǎn)地:芬蘭

更新時間:2024-08-12 11:13:00

有效期:2024年8月12日 -- 2026年7月23日

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Xstress DR45便攜式X射線殘余應力分析儀根據(jù)的是布拉格定律,使用X射線衍射法來測量殘余應力和殘余奧氏體。

Xstress DR45便攜式X射線殘余應力分析儀根據(jù)的是布拉格定律,使用X射線衍射法來測量殘余應力和殘余奧氏體。


Xstress DR45便攜式X射線殘余應力分析儀用于制造業(yè)

  • 快速測量,甚至適用于生產(chǎn)領(lǐng)域

  • 操作員易于使用的軟件

  • 可用于頻繁測量的模板

Xstress DR45便攜式X射線殘余應力分析儀用于實驗室

  • 可進行多種計算,包括線性和橢圓回歸,應力張量和主應力等功能。峰擬合功能包括互相關(guān),拋物線,高斯,洛倫茲,修改的洛倫茲,中間洛倫茲,皮爾遜VII,偽Vogt,Voigt,質(zhì)心,居中質(zhì)心,重心滑動和中弦。

  • 可測量不同尺寸和形狀的零件的巨大差異

  • 輕松快捷地更換X射線管

Xstress DR45便攜式X射線殘余應力分析儀現(xiàn)場使用

  • 快速組裝,可在10分鐘內(nèi)使用

  • 衍射儀和Xstress MU的穩(wěn)健設(shè)計

  • 可在不平坦的表面上進行測量;用磁腳固定在不同的位置。


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