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當前位置:> 供求商機> Xstress DR45-芬蘭品質(zhì)便攜式殘余奧氏體測定儀
貨物所在地:北京北京市
產(chǎn)地:芬蘭
更新時間:2024-08-12 11:11:38
有效期:2024年8月12日 -- 2025年11月27日
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芬蘭品質(zhì)便攜式殘余奧氏體測定儀根據(jù)的是布拉格定律,使用X射線衍射法來測量殘余應(yīng)力和殘余奧氏體,適用于所有多晶體材料(包括陶瓷)。
芬蘭品質(zhì)便攜式殘余奧氏體測定儀主要特性:
1)適用于殘余應(yīng)力、殘余奧氏體含量測定。
2)儀器穩(wěn)定性好,重現(xiàn)性好,尤其適合現(xiàn)場快速分析。
3)采用計算機數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),更適用于對多個樣品的聯(lián)測。
5)界面美觀,功能強大,操作簡單方便。
6)測角儀采用了疊步傾轉(zhuǎn)設(shè)計,側(cè)頭下部結(jié)構(gòu)簡單,在測量管材內(nèi)壁或機軸凸角等復雜部位時十分方便。
7)軟件更豐富、抗干擾能力更強,測試方法及可靠性更優(yōu)。
芬蘭品質(zhì)便攜式殘余奧氏體測定儀主要技術(shù)指標:
測角儀
◆ 傾斜和旋轉(zhuǎn)
◆ 改進的y幾何(側(cè)傾法)
◆ 對稱安裝的雙探測器
◆ 連續(xù)可調(diào)的2q角范圍:110-170度
◆ 多種準直器可更換,直徑從Φ1到Φ5,包括特殊小直徑Φ0.5和Φ0.8甚至更小
◆ 全自動校準,自動調(diào)整測距,行程誤差小于0.003mm
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