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SANKO三高膜厚計(jì)的使用與維修
深圳市三高貿(mào)易有限公司
膜厚計(jì)儀器大多存在以下問題：
1)液晶屏損壞；
2)主機(jī)和探頭接觸不良造成無數(shù)據(jù)顯示；
3)主機(jī)無顯示;
4)探頭連接后無數(shù)據(jù)出現(xiàn)，盡管顯示F或者NF標(biāo)志。
由于返廠維修周期長(zhǎng)，價(jià)格昂貴，zui重要的是耽誤了客戶的正常的工作。
造成問題出現(xiàn)的原因很多，但無外乎：
1)主板損壞；
2)軟件損壞；
3)探頭線插座損壞造成接觸不良；
4)探頭磨損嚴(yán)重，無維修價(jià)值。
泛泛的問題就是以上幾個(gè)故障，也有可能幾個(gè)問題一起出現(xiàn)。
膜厚儀也叫X射線測(cè)厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。 對(duì)于如何選擇膜厚儀，首先取決你企業(yè)自身的能力和經(jīng)營要求，德國宏德X-射線熒光鍍層測(cè)厚儀此款產(chǎn)品，專為五金電鍍行業(yè)而設(shè)計(jì)的儀器，物超所值，價(jià)格優(yōu)勢(shì),無須標(biāo)準(zhǔn)片建檔校正，很多同類機(jī)器均無此功能。（此款儀器由于其*的軟件功能，在利用已采集純?cè)亟y(cè)量程式，無標(biāo)準(zhǔn)片的情況下亦可進(jìn)行測(cè)量，并且測(cè)量表面鍍層的準(zhǔn)確度為正負(fù)5%）；維修成本低廉，由于各電子部件充分細(xì)分化，將每個(gè)電子部件成本降至zui低；X-射線管約為三萬元，一般線路板幾千元。其它配件也*業(yè)其他廠商優(yōu)惠。
可無損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、鋅、錫、琺瑯、橡膠、塑料、油漆等)，也可測(cè)量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。
本儀器可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小，測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量；該儀器堅(jiān)固耐用、用途廣泛，可單手操作。
*測(cè)量原理：磁感應(yīng)法和渦流法（Fe/NFe兩用探頭）
*測(cè)量范圍：1～1250μm
*測(cè)量準(zhǔn)確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準(zhǔn)）
*分辨率：1μm
*工件要求：zui小曲率半徑（mm）凸5 / 凹 25 ；
接觸zui小面積直徑10mm×10mm；
基體zui小厚度Fe:0.2 mm；NFe:0.05mm
*使用環(huán)境：溫度0-60攝氏度；濕度 20%-75% ；無磁場(chǎng)環(huán)境
*電源：四節(jié)1.5伏AAA電池
*外形尺寸：112 ×69×28mm
*重量：82 g(不含電池)
主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片、校準(zhǔn)鐵基體和鋁基體、使用指南、英文檢驗(yàn)報(bào)告證書、手提箱、掛繩及電池
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