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中級(jí)會(huì)員 | 第11年

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德祥:美國Hysitron & Protochips亮相上海市顯微學(xué)學(xué)會(huì)學(xué)術(shù)年會(huì)

時(shí)間:2013-1-8閱讀:932
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      上海市顯微學(xué)學(xué)會(huì)于2012年12月在上海復(fù)旦大學(xué)隆重召開,德祥作為科學(xué)儀器行業(yè)內(nèi)的,攜手HysitronProtochips成功亮相。會(huì)議主要內(nèi)容包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡,以及具有創(chuàng)新突破的研究手段,在材料學(xué),物理學(xué),生命科學(xué)等領(lǐng)域的科學(xué)研究中的應(yīng)用,和學(xué)術(shù)經(jīng)驗(yàn)交流等。

      在此次展會(huì)上, 我們成功展示了Hysitron TI950, TI750, PI85, PI87, PI95,以及Protochips的產(chǎn)品AduroPoseidon系列。為每一位拜訪的客戶分享了這一微觀領(lǐng)域研究的新的技術(shù)突破。

      美國Hysitron自1992年至今在納米力學(xué)研究領(lǐng)域已經(jīng)處于地位,先進(jìn)的納米壓痕技術(shù)和力學(xué)測(cè)試方法,是當(dāng)前的材料性能檢測(cè)技術(shù)。Hysitron 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)可以微觀地測(cè)定材料的楊氏模量、硬度、斷裂韌度,定向拉伸測(cè)試等,同時(shí)可以進(jìn)行量化劃痕,層裂應(yīng)力,摩擦系數(shù),普通應(yīng)力和側(cè)向應(yīng)力以及位移檢測(cè),還可以與電鏡和掃描結(jié)和,同步獲得結(jié)構(gòu)圖像,變形過程和數(shù)據(jù)。

      美國Protochips是致力于發(fā)展納米尺度科學(xué)研究的突破性分析工具,讓更多目的性研究得以呈現(xiàn)?,F(xiàn)今納米尺度科學(xué)研究的過程中,觀察儀器和納米材料處理需分開獨(dú)立操作,將二者合二為一是目前市場(chǎng)上極大的需求。它成功的將zui普及的電子顯微鏡由一般的成像拍攝功能變成真正的納米實(shí)驗(yàn)室。

上海市顯微學(xué)學(xué)會(huì)開幕式

會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)

工作人員與學(xué)者深入交流

      德祥,作為美國Hysitron 和Protochips 在國內(nèi)的*代理商,將一如既往為廣大新老客戶提供的產(chǎn)品和完善的服務(wù),歡迎瀏覽德祥了解更多資訊和產(chǎn)品詳情!

相關(guān):

Hysitron中文:http://www.hysitron.com.cn/

Protochips中文:http://www.protochips.com.cn/


 

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