.繼電保護綜合測試儀. 適用于低壓供電系統(tǒng)繼電保護裝置的調(diào)整與試驗。能成各種常用繼電器的校驗、二次回路檢驗、檢查互感器性、檢定斷路器跳閘機構(gòu)動作值以及對斷路器的分合閘時間測量等。HA-HYJB—Ⅲ型繼電保護綜合試驗儀具有示儀表度、能、性能穩(wěn)定、操作簡便、移動靈活等點。
1. .繼電保護綜合測試儀. 型號；MHY-20219
.繼電保護綜合測試儀. 適用于低壓供電系統(tǒng)繼電保護裝置的調(diào)整與試驗。能成各種常用繼電器的校驗、二次回路檢驗、檢查互感器性、檢定斷路器跳閘機構(gòu)動作值以及對斷路器的分合閘時間測量等。HA-HYJB—Ⅲ型繼電保護綜合試驗儀具有示儀表度、能、性能穩(wěn)定、操作簡便、移動靈活等點。
1.2輸出能與主要數(shù)據(jù)
1、直電壓輸出：0—350（V）連續(xù)可調(diào)，輸出容量：960VA
2、交電壓輸出：0—380（V）連續(xù)可調(diào)，輸出容量：400VA
3、直電輸出：0—10A連續(xù)可調(diào)，輸出容量80VA
5、交電輸出：0—10A 0—100A 容量1000VA
6、伏安性測試：電壓0~240V 電0~5A
7、交短路電壓模擬輸出
8、直電壓選擇輸出（可用于靜態(tài)繼電器的操作電源）
輸出電壓：24V、48V、110V、220V，輸出電均為0.4A。
9、 裝置度：0.5
10、接點動作時間測試：0~9999s
11、分辨率：1ms
12、外形尺寸：550*410*340mm3
13、重量：33kg
2. 塞曼效應(yīng)實驗儀(電磁型) 型號：MHY-23028
1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現(xiàn)當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數(shù)隨能的類別而不同，后人稱此現(xiàn)象為塞曼效應(yīng)。 塞曼效應(yīng)是繼英物理學(xué)家法拉1845年發(fā)現(xiàn)磁致旋光效應(yīng)，克爾1876年發(fā)現(xiàn)磁光克爾效應(yīng)之后，發(fā)現(xiàn)的又個磁光效應(yīng)。 塞曼效應(yīng)不僅證實了洛侖茲電子論的準確性，而且為 湯姆遜 發(fā)現(xiàn)電子提供了證據(jù)。還證實了原子具有磁矩并且空間取向是量子化的。1902年，塞曼與洛侖茲因這發(fā)現(xiàn)共同獲得了諾貝爾物理學(xué)獎。直到今日，塞曼效應(yīng)仍舊是研究原子能結(jié)構(gòu)的重要方法。
塞曼效應(yīng)實驗儀具有磁場穩(wěn)定，測量方便，實驗分裂環(huán)清晰等點，適用于等院校近代物理實驗和性實驗。
應(yīng)用該實驗儀主要成以下實驗：
1．掌握觀測塞曼效應(yīng)的實驗方法， 加深對原子磁矩及空間量子化等原子物理學(xué)概念的理解。
2．觀察汞原子 546.1nm譜線的分裂現(xiàn)象以及它們偏振狀態(tài)，由塞曼裂距計算電子荷質(zhì)比。
3．學(xué)習(xí)法布里-珀羅標準具的調(diào)節(jié)方法
4．學(xué)習(xí)CCD器件在光譜測量中的應(yīng)用。（其中CCD器件、采集系統(tǒng)及實驗分析軟件選購）
儀器主要參數(shù)：
1. 電磁鐵 zui大磁感應(yīng)強度 1.28T 勵磁電源 zui大輸出電 5A zui大輸出電壓 30V
2．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm
3．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm
4．干涉濾光片 中心波長 546.1nm
5. 讀數(shù)顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍8mm
3. 法拉效應(yīng)塞曼效應(yīng)綜合實驗儀 型號；MHY-23027
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現(xiàn)象和光學(xué)現(xiàn)象之間的時，發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象，當束平面偏振光穿過介質(zhì)時，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經(jīng)過樣品后偏振面轉(zhuǎn)過個角度，亦即磁場使介質(zhì)具有了旋光性，這種現(xiàn)象后來稱為法拉效應(yīng)。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現(xiàn)當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數(shù)隨能的類別而不同，后人稱此現(xiàn)象為塞曼效應(yīng)。法拉效應(yīng)和塞 曼 效應(yīng)是19紀實驗物理學(xué)家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論。
本公司的法拉效應(yīng)塞 曼 效應(yīng)綜合實驗儀是在I型的基礎(chǔ)上改而成，將原來維調(diào)節(jié)的氦氖激光器改為兩維調(diào)節(jié)的半導(dǎo)體激光器，這樣成法拉效應(yīng)時調(diào)節(jié)更加準確方便，并且激光輸出率更加穩(wěn)定。電磁鐵中心磁場強度也比以前有了顯著提，zui大可以達到1.4T。測角儀器將原來的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉(zhuǎn)換為直線位移），這樣讀數(shù)更加方便。該實驗儀可以作為大院校光學(xué)及近代物理實驗教學(xué)使用，也可以作為測量材料性、 光譜及磁光 作用的研究應(yīng)用。
儀器主要參數(shù)：
1. 半導(dǎo)體激光器 波長 650nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm
2. 電磁鐵 zui大磁感應(yīng)強度約1.35T（與勵磁電源有關(guān)）
3. 勵磁電源 zui大輸出電 5A zui大輸出電壓 30V
4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm
5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm
6．讀數(shù)顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm
7．法拉效應(yīng) zui小測角約 2分
4. 法拉－塞曼效應(yīng)綜合實驗儀 型號；MHY-23026
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現(xiàn)象和光學(xué)現(xiàn)象之間的時，發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象，當束平面偏振光穿過介質(zhì)時，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經(jīng)過樣品后偏振面轉(zhuǎn)過個角度，亦即磁場使介質(zhì)具有了旋光性，這種現(xiàn)象后來稱為法拉效應(yīng)。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現(xiàn)當光源放在足夠強的磁場中時，原來的條光譜線分裂成幾條光譜線，分裂的譜線成分是偏振的，分裂的條數(shù)隨能的類別而不同，后人稱此現(xiàn)象為塞曼效應(yīng)。法拉效應(yīng)和塞 曼 效應(yīng)是19紀實驗物理學(xué)家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論，隨著現(xiàn)代的發(fā)展，這兩種經(jīng)典的實驗效應(yīng)被廣泛應(yīng)用于激光、磁光及凝聚 態(tài)域 。
本公司的 MHY-23026型法拉效應(yīng)塞 曼 效應(yīng)綜合實驗儀是將兩種實驗效應(yīng)合理地整合成臺、多測量實驗教學(xué)儀器。應(yīng)用該實驗儀可以成法拉效應(yīng)和塞曼效應(yīng)的轉(zhuǎn)換測量，學(xué)習(xí)磁光作用的性。該實驗儀可以作為大院校光學(xué)及近代物理實驗教學(xué)使用，也可以作為測量材料性、 光譜及磁光 作用的研究應(yīng)用。
儀器主要參數(shù)：
1.氦氖激光器 波長 632.8nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 2.6mm
2.電磁鐵 zui大磁感應(yīng)強度 1.28T
3.勵磁電源 zui大輸出電 5A zui大輸出電壓 30V
4.低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm
5.法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm
6.干涉濾光片 中心波長 546.1nm
7.讀數(shù)顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm
8.法拉效應(yīng) zui小測角 2分
5. 磁光效應(yīng)綜合實驗儀（法拉效應(yīng)和磁光調(diào)制） 型號；MHY-23025
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現(xiàn)象和光學(xué)現(xiàn)象之間的時，發(fā)現(xiàn)了種現(xiàn)象，當束平面偏振光穿過介質(zhì)時，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個磁場，就會觀察到光經(jīng)過樣品后偏振面轉(zhuǎn)過個角度，亦即磁場使介質(zhì)具有了旋光性，這種現(xiàn)象后來稱為法拉效應(yīng)。
法拉效應(yīng)有許多應(yīng)用，它可以作為物質(zhì)研究的手段，可以用來測量載子的有效質(zhì)量和提供能帶結(jié)構(gòu)的知識，還可以用來測量電路中的電和磁場，別是在激光中，利用法拉效應(yīng)的性可以制成光隔離器、光環(huán)形器和調(diào)制器等。
MHY-23025型磁光效應(yīng)綜合實驗儀，是臺綜合研究磁光效應(yīng)的實驗儀器，通過該實驗儀可以學(xué)習(xí)法拉效應(yīng)的原理，并通過偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數(shù)，還可以通過磁光調(diào)制的方法確定消光位置，從而提測量度，這種由淺入深的測量方法使學(xué)生理解測量的方法。并通過調(diào)制的方法可以測量不同磁光樣品的光學(xué)性和征參量，另外該儀器可以顯示磁光調(diào)制波形，觀測磁光調(diào)制現(xiàn)象，研究調(diào)制幅度和調(diào)制深度的原理。本儀器有下列性：1）可對磁光效應(yīng)差異懸殊的多種磁光介質(zhì)行實驗；2）具有大幅度的交調(diào)制信號和直勵磁，且穩(wěn)勵磁正負連續(xù)可調(diào)；3）光強輸出大小用數(shù)字顯示，直觀；4）調(diào)制光接收靈敏度，輸出波形穩(wěn)定；5）檢偏裝置帶游標測角機構(gòu)，分辨率。
儀器主要參數(shù)：
1．磁光介質(zhì) 法拉旋光玻璃
2．激光光源 半導(dǎo)體激光器（波長650nm）輸出率 <2.5mW
3．直勵磁電 0—5A(連續(xù)可調(diào)，數(shù)字顯示)
4．調(diào)制信號 頻率500Hz(正弦波)
5．起偏器角度分辨率 1度
6．檢偏分辨率 約3分
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