FT系列涂鍍層測(cè)厚儀旨在對(duì)生產(chǎn)質(zhì)量控制發(fā)揮關(guān)鍵作用，其在金屬飾面處理和電子市場(chǎng)中的具有廣泛應(yīng)用。FT110A 和 FT150 系列為復(fù)雜形狀的大型零件測(cè)量以及小型特征超薄涂層測(cè)量提供了新型解決方案。這兩種儀器均屬于臺(tái)式 EDXRF（能量色散X射線熒光）光譜儀，具有功能強(qiáng)大的軟件和硬件，旨在提高樣品分析量，任何操作員都可獲得高質(zhì)量的結(jié)果。

FT110A

FT150

輕松處理復(fù)雜樣品

FT110A 包含多個(gè)特征，用于測(cè)量通常難以處理的零件?？膳渲萌忾]或開槽門的大型腔室，可裝入汽車零部件和裝飾五金件，與處理小型緊固件一樣容易。自動(dòng)對(duì)焦程序可以在離樣品表面 80mm 的位置進(jìn)行測(cè)量，非常適合測(cè)量凹陷區(qū)域或快速測(cè)量不同高度的多個(gè)零件。自動(dòng)接近功能提供一鍵式定位功能，可將X射線組件設(shè)置在理想距離，以獲得有復(fù)驗(yàn)性的結(jié)果。寬視角攝像頭將呈現(xiàn)整個(gè)樣品的圖像，以便輕松定位所需的測(cè)量位置。只需點(diǎn)擊圖像中的特征，它將自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)進(jìn)行分析。

測(cè)量納米級(jí)的涂層

FT150 配置組件，可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄涂層的元素分析。毛細(xì)聚焦管聚焦X射線束直徑小于20μm，實(shí)現(xiàn)在樣品上聚焦更大強(qiáng)度，并測(cè)量小于傳統(tǒng)準(zhǔn)直器可測(cè)量的特征。高靈敏度、高分辨率Vortex®硅漂移探測(cè)器（SDD）充分利用光學(xué)元件測(cè)量微電子設(shè)備和半導(dǎo)體上的納米級(jí)涂層。高精度載物臺(tái)和具備數(shù)字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣品特征，以提高樣品分析量。

日立分析儀器產(chǎn)品 Matt Kreiner 表示：“受到40年XRF鍍層測(cè)厚儀研發(fā)經(jīng)驗(yàn)啟發(fā)，F(xiàn)T110A 和 FT150 使用的智能功能解決了涂鍍層分析中zui難的一些挑戰(zhàn)。FT110A 的樣品處理能力和 FT150 的微焦分析能力補(bǔ)全了我們?nèi)淄垮儗訙y(cè)厚儀系列，我們很高興為客戶提供這些新型解決方案。”

關(guān)于日立高新技術(shù)公司

日立高新技術(shù)公司總部位于日本東京，從事科學(xué)和醫(yī)療系統(tǒng)、電子設(shè)備系統(tǒng)、工業(yè)系統(tǒng)和先進(jìn)工業(yè)產(chǎn)品等廣泛領(lǐng)域的活動(dòng)。公司2017財(cái)年的綜合銷售額約為6877億日元（約合63億美元）。

關(guān)于日立分析儀器公司

日立分析儀器是2017年7月成立并隸屬于日立高新技術(shù)集團(tuán)的性公司，總部位于英國(guó)牛津。其研發(fā)和生產(chǎn)運(yùn)營(yíng)部門位于芬蘭、德國(guó)和中國(guó)，在許多國(guó)家可提供銷售和支持服務(wù)。我們的產(chǎn)品系列包括：

• FT系列、X-Strata 和 MAXXI 微焦斑 XRF 分析設(shè)備可測(cè)量單層和多層合金涂層厚度，可應(yīng)用于質(zhì)檢和過程控制和科研實(shí)驗(yàn)室。

• Lab-X5000 和 X-Supreme8000 臺(tái)式 XRF 分析儀可為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多種行業(yè)提供質(zhì)量保證和過程控制。

• 我們的 PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER 和 TEST-MASTER 系列直讀光譜儀被世界各行各業(yè)用來進(jìn)行快速和的金屬分析。這些儀器采用光學(xué)發(fā)射光譜技術(shù)可測(cè)定所有重要元素，其檢測(cè)限低，精度高，包括鋼中的碳和幾乎所有金屬中所有技術(shù)相關(guān)的主要元素和微量元素。

• X-MET8000 手持分析設(shè)備，采用高精度 XRF 技術(shù)，可為很多行業(yè)提供簡(jiǎn)單、快速和無損的合金分析，包括廢舊金屬分揀和金屬品級(jí)篩選。

• Vulcan 手持分析設(shè)備，采用 LIBS 激光技術(shù)，可一秒檢測(cè)金屬合金，為檢測(cè)量大的金屬行業(yè)客戶提供了*檢測(cè)解決方案。