X-Strata920使用能量色散X射線熒光 (EDXRF) 的無損分析技術(shù)來產(chǎn)生樣品的X射線光譜。該元素X射線光譜通過提供的基本參數(shù)法（FP）或經(jīng)驗系數(shù)法軟件來進行鍍層厚度或成分分析。X-Strata920配有一系列不同的樣品艙和底座來滿足不同形狀和尺寸的樣品。

所有樣品艙配置都是開槽式，便于快速加載扁平或薄的樣品，例如線路板和電線。激光聚焦確保可重復(fù)的樣品放置，以獲得所有操作員的一致結(jié)果?？蛇x的程控樣品臺使自動測量多樣品或單個樣品上的多個特征變得容易，還可以執(zhí)行掃描以獲取凹凸表面的代表性分析。準(zhǔn)直器可選配，以確保適用各種尺寸配件，提供佳性能。