日立分析儀器(上海)有限公司

廢料場 – 將手持式光譜儀物盡其用

時(shí)間:2020-11-6 閱讀:403
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對于手持式合金分析儀而言,廢料場是艱難,具挑戰(zhàn)性的環(huán)境之一。

每天都有震動(dòng),跌落,振動(dòng),下雨,灰塵和尖銳物體的危險(xiǎn)。通過一些預(yù)防措施,適當(dāng)?shù)呐嘤?xùn)和一些常識(shí),可以避免許多事故,但事故確實(shí)仍然發(fā)生。

現(xiàn)代手持式儀器旨在在惡劣的環(huán)境下在戶外使用,并可以承受高達(dá)一定程度的重壓處理。

日立分析儀器的產(chǎn)品經(jīng)理Mikko Järvikivi著眼于將高精度實(shí)驗(yàn)室儀器轉(zhuǎn)換為堅(jiān)固的手持工具所需要的條件,以及當(dāng)今技術(shù)的局限性。


分析儀的前端 - 脆弱的部位

幾乎所有長時(shí)間使用手持X射線熒光(XRF)儀器的人都已經(jīng)痛苦地意識(shí)到了儀器前端的敏感性,更具體地說,是脆弱的X射線探測器。檢測器刺穿是代價(jià)高昂的事故,每個(gè)人都希望盡可能避免。

為了確保性能并檢測甚至輕的元素,例如鎂,鋁,硅,硫和磷,檢測器必須放置在非??拷鼫y量窗口的位置。窗口還必須用薄的材料制成,以確保信號(hào)到達(dá)檢測器時(shí)不會(huì)衰減。這種組合使XRF分析儀的前端非常敏感,而探測器的刺穿是意外損壞儀器的常見原因。

在過去的幾年中,業(yè)界已經(jīng)開發(fā)出了防止檢測器刺穿的方法。解決方案通常是保護(hù)測量窗口或檢測器本身的另一種類型的屏蔽。防護(hù)罩為現(xiàn)場操作提供了額外的安全保護(hù),但是有一個(gè)缺點(diǎn)需要考慮。

當(dāng)在檢測器和被測樣品之間的路徑中放置任何東西時(shí),總是會(huì)在一定程度上損害分析性能。這是基本XRF物理設(shè)置的限制。通常,使用防護(hù)罩意味著稍長的測量時(shí)間和更高的輕元素檢測極限。例如,如果您需要監(jiān)視不銹鋼中的磷含量或根據(jù)鎂和硅的含量選擇接近的鋁級,則通常不可能使用屏蔽,并且在選擇儀器時(shí)必須考慮到這一點(diǎn)。

手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)分析儀使用*不同的技術(shù),因此對車削等尖銳物體不敏感。 LIBS分析儀中的測量光學(xué)器件受到藍(lán)寶石玻璃的保護(hù),而藍(lán)寶石玻璃是當(dāng)今已知的堅(jiān)硬的材料之一。有些測量窗口甚至是凹進(jìn)的,這意味著玻璃本身不會(huì)與樣品接觸。用戶需要記住的是保持測量窗口清潔以確保性能。


針對設(shè)備跌落

墜落標(biāo)有五位數(shù)價(jià)格標(biāo)簽的精密儀器總是一個(gè)壞主意。如今,許多儀器都符合MIL-STD-810G標(biāo)準(zhǔn),但是這實(shí)際上意味著什么?對于儀器的意外掉落和嚴(yán)重處理,它提供什么樣的保護(hù)?

MIL標(biāo)準(zhǔn)是由美國軍方制定的,包括一系列模擬實(shí)驗(yàn)室堅(jiān)固性的測試,而不是在實(shí)際條件下進(jìn)行的測試。 MIL-STD-810G標(biāo)準(zhǔn)包括從跌落測試到被測儀器表面真菌生長的幾個(gè)子測試。在仔細(xì)觀察儀器的技術(shù)規(guī)格時(shí),針對手持式分析儀進(jìn)行的典型測試涉及跌落,撞擊,振動(dòng)和運(yùn)輸。還值得檢查是否按照規(guī)范進(jìn)行了測試,或者是否存在例外情況,例如將儀器從比的高度低的高度掉落。

為了通過MIL-STD-810G跌落測試,將儀器從4英尺(122厘米)的不同角度在2英寸(5厘米)的膠合板上跌落26次。多可以使用五個(gè)不同的單元通過此測試,因此單個(gè)單元不需要通過所有26個(gè)液滴。手持式分析儀設(shè)計(jì)的新發(fā)展使通過此測試成為可能,而不會(huì)損壞內(nèi)部的關(guān)鍵組件或電子設(shè)備。

重要的是要了解通過軍事標(biāo)準(zhǔn)測試通常不是保修聲明。這意味著用戶不能掉落儀器并期望儀器受到保修。儀器通常配備有震動(dòng)傳感器,可以在維修期間顯示儀器是否掉落。同樣,將設(shè)備掉落在諸如瀝青或混凝土之類的堅(jiān)硬表面上與模擬掉落在膠合板上的情況*不同。因此,即使今天的儀器比過去的儀器堅(jiān)固得多,也要始終保留那些腕帶或掛繩。

 

防止濺水和灰塵

廢料場中總是存在水,灰塵,油和切削液。幸運(yùn)的是,這些天這些儀器可以很好地承受這些條件。多數(shù)儀器已通過IP54(歐洲)或NEMA 3(美國)分類,并且可以承受飛濺的水和灰塵??梢允褂酶呒墑e的進(jìn)水等級,但是通過將輕元素排除在等式之外,這些限制了儀器的分析性能,因?yàn)樾枰褂酶竦谋∧肀Wo(hù)儀器的前端。

因此,在小雨和多塵的環(huán)境中,大多數(shù)手持式分析儀都可以正常工作,只要定期清潔它們,并經(jīng)常監(jiān)視測量窗口的清潔度即可。請勿在大雨中使用儀器,也不要將分析儀的任何部分浸入水中。

在潮濕多塵的環(huán)境中,水和顆粒始終會(huì)在一定程度上影響分析性能,因此樣品表面面臨更大的挑戰(zhàn)。因此,建議的做法是在進(jìn)行測量之前始終干燥和清潔表面。這一點(diǎn)非常重要,尤其是在操作比XRF分析儀對樣品表面狀況更敏感的LIBS分析儀時(shí)。

 

底線

手持式分析儀設(shè)計(jì)的新發(fā)展使得即使在惡劣的環(huán)境下也可以安全地操作儀器。但是,物理定律設(shè)置了一些無法克服的限制,而制造堅(jiān)不可摧的儀器仍然是一個(gè)挑戰(zhàn)。

謹(jǐn)慎使用儀器并按照提供的說明進(jìn)行操作仍然是確保長時(shí)間*運(yùn)行的方法。但是,在發(fā)生不可避免的事故的情況下,如今的儀器無需訪問服務(wù)站就具有更高的生存機(jī)會(huì)。

如果您由于不可避免的事故確實(shí)需要訪問服務(wù)點(diǎn),則在日立分析儀器,我們提供的服務(wù)包可確保您正常運(yùn)行并確保小的停機(jī)時(shí)間?;蛘撸梢赃x擇我們的延長保修,讓您*放心,同時(shí)確保大限度地延長機(jī)器的正常運(yùn)行時(shí)間,生產(chǎn)率,性能和利潤率。

 

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