LightWing光學(xué)系統(tǒng)

分析儀內(nèi)部的光學(xué)系統(tǒng)布局的設(shè)計(jì)已*改變。儀器包含多塊檢測(cè)器，并將探測(cè)器放在單一焦平面上。這能大幅提高分辨率，重新設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)也能減少外殼的整體體積。這反過來能減少操作過程中的氬氣消耗量，有助于降低成本。另一個(gè)好處是啟動(dòng)時(shí)間更短，有助于提高生產(chǎn)率。

CMOS檢測(cè)器技術(shù)

如前文所述，我們已經(jīng)包含多個(gè)以特定方式配置的檢測(cè)器。但這還不是全部，實(shí)際上我們還重新設(shè)計(jì)了檢測(cè)器，并使用CMOS技術(shù)。這使每個(gè)檢測(cè)器的分辨率和動(dòng)態(tài)范圍更高，意味著與傳統(tǒng)CCD檢測(cè)器相比，我們需要的探測(cè)器數(shù)量更少?，F(xiàn)代CMOS技術(shù)在極低檢出限下也很穩(wěn)定，是OE系列所具備的ppm范圍檢測(cè)能力的一個(gè)因素。

重新設(shè)計(jì)的火花光源降低能耗成本

火花直讀光譜儀的用戶知道，火花本身會(huì)產(chǎn)生大量熱，并消耗大量電能。我們減少了OE系列所需的余熱和能量，從而提高電光轉(zhuǎn)換效率，降低運(yùn)行成本。這也意味著我們可以納入一個(gè)直流電源，用于隔離儀器主電源——這一點(diǎn)很重要，因?yàn)槿绻麟娫床▌?dòng)的話會(huì)影響性能。

通過減少維護(hù)以優(yōu)化環(huán)境穩(wěn)定性

由于獲得在OE系列的設(shè)計(jì)中進(jìn)行整體改變的機(jī)會(huì)，由此我們能夠觀察技術(shù)的各個(gè)方面，包括氬氣如何隨著時(shí)間的推移而影響結(jié)果。我們知道，對(duì)于非常短的波長(zhǎng)（小于200nm），光強(qiáng)會(huì)逐漸降低，因此很難獲得某些元素的結(jié)果。OE750通過使用中壓力氬氣凈化系統(tǒng)克服了這一點(diǎn)，該環(huán)境隨著時(shí)間推移提供更好的穩(wěn)定性和強(qiáng)度。這意味著系統(tǒng)可以用無油泵運(yùn)行，從而降低功耗并減少標(biāo)準(zhǔn)化的需要。

火花臺(tái)是單獨(dú)的密封裝置

火花臺(tái)的任何泄漏或連接不*都會(huì)影響儀器性能。如果火花臺(tái)中進(jìn)入空氣，會(huì)影響結(jié)果，進(jìn)入灰塵會(huì)增加清潔的需要。解決辦法是將光學(xué)系統(tǒng)和火花臺(tái)密封在單臺(tái)裝置中，使空氣或灰塵無法進(jìn)入。這也可以使等離子體源更好地傳導(dǎo)到檢測(cè)器上，從而提高分辨率。已對(duì)密封裝置的氬氣流進(jìn)行優(yōu)化，這也有助于降低氬氣消耗量。

OE系列的上述技術(shù)創(chuàng)新可使用戶在價(jià)格合理的儀器中獲得全面ppm級(jí)性能的金屬分析，運(yùn)營(yíng)成本也得以降低。

OE系列：兩種分析儀可供選擇

OE系列的兩種儀器都受益于相同的高性能和*的成本效益。OE720非常適合低檢出限，或者可選擇OE750達(dá)到更低的檢出限，并為用戶的工具包添加氮、氧或氫分析功能。