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關(guān)于X射線熒光鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品的應(yīng)用闡述
XRF指X射線熒光，是一種識(shí)別樣品中元素類型和數(shù)量的技術(shù)。用于在整個(gè)電鍍行業(yè)范圍內(nèi)驗(yàn)證鍍層的厚度和成分。其基本的無(wú)損性質(zhì)，加上快速測(cè)量和結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式儀器等優(yōu)點(diǎn)，能實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)分析并立即得到結(jié)果。
對(duì)于鍍層分析，XRF鍍層測(cè)厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為厚度測(cè)量值。在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，X射線管產(chǎn)生的高能量x射線通過(guò)光圈聚集，并照射在樣品非常小的區(qū)域（該區(qū)域的大小為光斑尺寸）。這些X射線與光斑內(nèi)元素的原子相互作用。
XRF鍍層測(cè)厚儀相機(jī)幫助用戶準(zhǔn)確定位測(cè)量區(qū)域。某些情形下相機(jī)用于向自動(dòng)操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以準(zhǔn)確定位需要測(cè)量的區(qū)域。樣品可放置于固定或可移動(dòng)的XRF鍍層測(cè)厚儀樣品臺(tái)上。快速或慢速移動(dòng)對(duì)于找到測(cè)試位置很重要，隨后聚焦于準(zhǔn)確的區(qū)域進(jìn)行測(cè)量。工作臺(tái)移動(dòng)的精準(zhǔn)度是帶來(lái)測(cè)試定位準(zhǔn)確的一個(gè)因素，并進(jìn)提升儀器的整體準(zhǔn)確度。
特點(diǎn)：
適應(yīng)性設(shè)計(jì)，可對(duì)各種產(chǎn)品進(jìn)行可靠分析
自動(dòng)對(duì)焦和可選的程控臺(tái)提高了準(zhǔn)確性和速度
直觀的 SmartLink 軟件使測(cè)量和導(dǎo)出數(shù)據(jù)變得容易
多準(zhǔn)直器設(shè)計(jì)為每個(gè)樣品提供高準(zhǔn)確性
選擇適合應(yīng)用的比例計(jì)數(shù)器或硅漂移檢測(cè)器 (SDD)
符合行業(yè)規(guī)范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
光學(xué)分析單層和多層鍍層，包括合金層
簡(jiǎn)單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內(nèi)提供結(jié)果