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日立分析儀器發(fā)布新款高分辨率探測器SDD款XRF鍍層測厚儀X-Strata920
日立分析儀器XRF鍍層測厚儀系列在電子和金屬表面處理行業(yè)已有超過40年鍍層分析的成功經(jīng)驗(yàn)。X-Strata920可確保鍍層符合規(guī)格要求,并將鍍層過量或過少鍍層廢料造成的浪費(fèi)減至少。隨著X-Strata功能的擴(kuò)展,用戶可以通過該儀器進(jìn)行更多工作。
這一款新型X-Strata意味著可選擇高分辨率硅漂移探測器(SDD)或正比計(jì)數(shù)器定制儀器,以優(yōu)化其性能。此外,它現(xiàn)在擁有四個(gè)腔室和基座配置,可處理各種形狀和尺寸的樣品,包括汽車行業(yè)中的復(fù)雜幾何形狀。
對于復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu),SDD可以提供優(yōu)于正比計(jì)數(shù)器的優(yōu)勢,因?yàn)樗追治鼍哂蓄愃芚RF特征的元素,例如鎳和銅。這擴(kuò)大了可以用于分析的元素范圍,包括磷 — 對于化學(xué)鍍鎳分析非常關(guān)鍵,并且可以更地測量較薄鍍層,例如符合IPC-4552A的納米范圍的金。
日立分析儀器產(chǎn)品業(yè)務(wù)發(fā)展Matt KREINER表示:“X-Strata920以及日立分析儀器產(chǎn)品系列的其他XRF儀器因其未來前景、可靠性和易用性而聞名。SDD的加入以及多種配置選擇能提高我們客戶的分析能力和靈活性,以測量大量零件的復(fù)雜鍍層。我們保留了高度直觀的SmartLink軟件,因此任何操作員(無論經(jīng)驗(yàn)水平如何)都能夠快速學(xué)會使用儀器并獲得準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。我們的鍍層產(chǎn)品,包括FT150微焦斑鍍層測厚儀、手持式XRF光譜儀以及可進(jìn)行快速便攜式分析的CMI系列,40多年來在鍍層測量領(lǐng)域一直深受信賴,我們很高興能夠提供這些改進(jìn)成果。”
關(guān)于日立高新技術(shù)公司
日立高新技術(shù)公司總部位于日本東京,從事科學(xué)和醫(yī)療系統(tǒng)、電子設(shè)備系統(tǒng)、工業(yè)系統(tǒng)和先進(jìn)工業(yè)產(chǎn)品等廣泛領(lǐng)域的活動。公司2017財(cái)年的綜合銷售額約為6,877億日元(約合63億美元)。
關(guān)于日立分析儀器公司
日立分析儀器是日立高新技術(shù)集團(tuán)于2017年7月創(chuàng)立的新性公司。該公司總部位于英國牛津,在芬蘭、德國和中國開展研發(fā)和裝配業(yè)務(wù)并在多個(gè)國家展開銷售和支持業(yè)務(wù)。我們的產(chǎn)品系列包括:
FT系列、X-Strata 和 MAXXI 微焦斑 XRF 分析設(shè)備可測量單層和多層合金涂層厚度,可應(yīng)用于質(zhì)檢和過程控制和科研實(shí)驗(yàn)室。
Lab-X5000和X-Supreme8000 臺式XRF 分析儀可為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多種行業(yè)提供質(zhì)量保證和過程控制。
我們的PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER和 TEST-MASTER 系列直讀光譜儀被世界各行各業(yè)用來進(jìn)行快速和的金屬分析。這些儀器采用光學(xué)發(fā)射光譜技術(shù)可測定所有重要元素,其檢測限低,精度高,包括鋼中的碳和幾乎所有金屬中所有技術(shù)相關(guān)的主要元素和微量元素。
X-MET8000手持分析設(shè)備,采用高精度XRF 技術(shù),可為很多行業(yè)提供簡單、快速和無損的合金分析,包括廢舊金屬分揀和金屬品級篩選。
Vulcan 手持分析設(shè)備,采用 LIBS 激光技術(shù),可一秒檢測金屬合金,為檢測量大的金屬行業(yè)客戶提供了佳檢測解決方案。