日立分析儀器(上海)有限公司

網(wǎng)絡(luò)講堂:鍍層的測(cè)厚方法實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)分享及案例解析

時(shí)間:2019-10-10 閱讀:497
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講座內(nèi)容主要介紹幾種主流的膜厚測(cè)量方式,從多角度介紹不同測(cè)厚方法的優(yōu)劣,包括電解法(庫侖法)、金相法、X射線熒光法等。鍍層XRF分析儀是一個(gè)有價(jià)值的電鍍過程控制工具。它快速,易于使用和準(zhǔn)確,并允許您監(jiān)控和調(diào)整您的電鍍產(chǎn)線,以確保高質(zhì)量。

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