日立分析儀器(上海)有限公司

8月18日 網(wǎng)絡(luò)講堂 | X射線分析的應(yīng)用方向及RoHS檢測(cè)

時(shí)間:2022-7-28 閱讀:257
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研討會(huì)介紹


在本次網(wǎng)絡(luò)課程中,您將了解到日立EA1400型X射線熒光分析儀的諸多解決方案及應(yīng)用。其中包括輕元素檢測(cè),凹面樣品檢測(cè),細(xì)小異物檢測(cè),鍍層厚度檢測(cè)等功能。在有效提高檢測(cè)能力的同時(shí),高速自動(dòng)進(jìn)樣器也提高了檢測(cè)效率。其將幫助您在日常工作中,無(wú)論是對(duì)應(yīng)RoHS篩選或其它無(wú)損化檢測(cè)需求都能得心應(yīng)手。

會(huì)議主題:X射線分析的應(yīng)用方向及RoHS檢測(cè)

會(huì)議時(shí)間: 2022-08-18 14:00

主辦單位:日立分析儀器(上海)有限公司

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潘爾超

應(yīng)用技術(shù)&實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)人

15年相關(guān)行業(yè)從業(yè)經(jīng)驗(yàn),活躍于儀器分析與第三方檢測(cè)行業(yè)。先后任職SGS、SEIKO Nano、日立分析儀器(上海)有限公司。長(zhǎng)期從事X射線熒光檢測(cè),XRF鍍層測(cè)厚分析,等離子發(fā)射光譜等應(yīng)用技術(shù)工作。



參會(huì)指南


一、參會(huì)條件
1、免費(fèi)報(bào)名無(wú)需任何差旅費(fèi)用只需要一臺(tái)電腦或一部手機(jī),網(wǎng)絡(luò)帶寬超過(guò)128K。
2、報(bào)告專(zhuān)家PPT講解將實(shí)時(shí)傳送給所有參會(huì)者,參會(huì)者也可通過(guò)文字向報(bào)告人提問(wèn),報(bào)告人在報(bào)告結(jié)束后統(tǒng)一進(jìn)行解答。
二、參會(huì)方式(手機(jī)電腦均可參會(huì))
1、報(bào)名參會(huì)并通過(guò)審核后,您將會(huì)收到郵件通知,并在會(huì)前一天收到提醒參會(huì)的短信通知。
2、會(huì)議當(dāng)天進(jìn)入儀器信息網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)講堂首頁(yè)
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