上海國際膠帶與薄膜展覽會與上海國際模切展覽會簡稱「APFE」，兩展結(jié)合起來共同搭建起了膠粘新材與功能薄膜行業(yè)國際性的商貿(mào)及技術(shù)交流平臺，成為當(dāng)今全球膠帶與薄膜行業(yè)的行業(yè)盛會，日立展臺恭候您的光臨。

2.1H展廳2B156展位

準(zhǔn)確獲得紙張、薄膜和離型膜上有機硅涂層的厚度和質(zhì)量非常重要。如果涂層太薄，可能無法充分脫離，將導(dǎo)致產(chǎn)品無法使用；如果涂層太厚，生產(chǎn)成本會變得過高。如果將粘合紙或粘合膜用于PCB，則粘合層上的任何殘留有機硅均可能對性能產(chǎn)生不利影響，因此必須仔細(xì)控制有機硅層的質(zhì)量。

LAB-X5000臺式XRF用于準(zhǔn)確可靠的質(zhì)量控制

功能強大的LAB-X5000是測量有機硅涂層重量之選。其堅固緊湊的設(shè)計確保其能夠輕松適應(yīng)繁忙的生產(chǎn)環(huán)境。隨附的樣品旋轉(zhuǎn)器能夠輕松分析樣品盤上的多個點，從而檢驗涂層的同質(zhì)性。已針對有機硅厚度測量對LAB-X進(jìn)行預(yù)先優(yōu)化，能夠校正粘土涂布紙或粘土填料紙的干擾。

X-Supreme8000臺式XRF用于大批量生產(chǎn)分析

X-Supreme8000是生產(chǎn)環(huán)境中進(jìn)行分析大量樣品分析之選。該分析儀包括一臺十位自動進(jìn)樣器，使用中可將十件樣品裝載至儀器中進(jìn)行自動分析。X-Supreme可就各類基材上的有機硅涂層重量厚度，提供準(zhǔn)確可靠的結(jié)果，并且能夠測量硅油中存在的鉑催化劑量，以便進(jìn)行過程控制。

熱分析儀器

日立的熱分析儀系列廣泛用于材料物性評測分析，比如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熱膨脹、軟化特性等。這類儀器受到全球制造商和研究實驗室的信任，且具有頂級靈敏度，能捕捉微小的熱事件。儀器整合了日立的RealView系統(tǒng)，在關(guān)鍵時刻具有可靠熱分析所需的精度和準(zhǔn)確度。