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中級(jí)會(huì)員 | 第17年

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X-MET3000TXR+ - 新型RoHS檢測(cè)手持式XRF光譜儀

時(shí)間:2008/8/24閱讀:3621
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對(duì)于 PentaPINTM 探測(cè)器來說,傳統(tǒng)的硅(Si-PIN)探測(cè)器,三十秒測(cè)量一個(gè)樣品所能達(dá)到的精度,新的探測(cè)器只需十秒就能同樣達(dá)到,大大減少了測(cè)量時(shí)間。對(duì)于塑料樣品的測(cè)量,能降低背體雜訊的吸收,相應(yīng)增長(zhǎng)其他元素的吸收率,改善了ROHS限制元素的檢測(cè)下限。尤其針對(duì)鉛和鎘的探測(cè)下限,有著成倍的提高,其它元素也有了顯著的改善。新的機(jī)型安裝了的操作軟件,用以處理新的探測(cè)技術(shù)所帶來的全新數(shù)據(jù)處理,大大提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

 

牛津儀器工業(yè)分析部Oxford Instruments Industrial Analysis

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