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鍍層測厚儀、電解鍍層測厚儀、電解膜測厚儀
一、簡單介紹:
COULOSCOPE® CMS (庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。
COULOSCOPE® CMS精確地測量范圍在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
COULOSCOPE® CMS STEP:
用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。在電鍍工業(yè)中,對多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為一種標準的操作。
COULOSCOPE® CMS STEP:
儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位,以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。(還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳)
COULOSCOPE® CMS STEP應(yīng)用領(lǐng)域:
· 成品的入庫檢驗,例如汽車工業(yè)中鉻合金輪轂澆筑件(帶雙層鎳)。
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