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X-Cite-X-Cite臺(tái)式EDXRF光譜儀
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
6定制的濾光片,讓您更快更精確地測(cè)量微量元素
低至123eV的分辨率
【詳細(xì)說(shuō)明】
特點(diǎn)
無(wú)損元素分析,分析范圍從F(9)—Fm(100),元素,含量次ppm~*
6定制的濾光片,讓您更快更精確地測(cè)量微量元素
低至123eV的分辨率
設(shè)計(jì)堅(jiān)固、小巧
8/16位樣品盤(pán)
專(zhuān)有的nEXtTM軟件包,操作方便
性能強(qiáng)大,檢測(cè)快速
可選:高計(jì)數(shù)率,高分辨率硅漂移探測(cè)器(SDD),適用于高原子序數(shù)和低原子序數(shù)元素的檢測(cè)。
X-CITE
Xenemetrix的X-Cite能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(EDXRF)提供高性?xún)r(jià)比地元素分析方案。
緊湊型外型設(shè)計(jì)便于放置在傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)臺(tái),儀器內(nèi)集成完整的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。堅(jiān)固耐用的外型設(shè)計(jì)也適合移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室。
Xenemetrix的X-Cite采用了高分辨率的探測(cè)器和功能強(qiáng)大的X射線(xiàn)管,具有不同尺寸的檢測(cè)光斑,以適應(yīng)不同尺寸的樣品。
該分析儀應(yīng)用于無(wú)損定性和定量檢測(cè),元素分析范圍從F(9)到Fm(100)。檢測(cè)結(jié)果,能夠在現(xiàn)在和未來(lái)提供強(qiáng)大的分析結(jié)果。在用限的樣品量或者樣品必須完整保存的應(yīng)用中,這種檢測(cè)方法是極其有價(jià)值的。
該創(chuàng)新裝置優(yōu)于傳統(tǒng)的耗資又復(fù)雜的需液氮制冷的系統(tǒng)。
集成的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)能進(jìn)性全面的數(shù)據(jù)分析和傳輸。
硅漂移探測(cè)器(SDD):
硅漂移探測(cè)器有更高的計(jì)數(shù)率,更佳的分辨率, 分辨率低至123eV,及更快速的檢測(cè)速度。
PD(Pin 二極管)探測(cè)器:
超薄的探測(cè)器窗對(duì)低原子序數(shù)元素提高有好的檢測(cè)性能?;竞涂煽康奶綔y(cè)器,分辨率≥ 150eV。
1、內(nèi)置計(jì)算機(jī)系統(tǒng) 5、自動(dòng)進(jìn)樣器
2、高壓電源 6、樣品讀取位置
3、樣品室 7、電制冷硅PIN檢測(cè)器
4、 X射線(xiàn)管 8、控制板
重要應(yīng)用:
- 石化
- 聚合物
- 學(xué)術(shù)/教育
- 建筑
- 冶金
- 合金
- 環(huán)保
- 采礦及地質(zhì)
- 法鑒
- 鑒定及貴金屬
- 醫(yī)藥與生物醫(yī)學(xué)