詳細(xì)介紹
電化學(xué)顯微鏡EC AFM是在原子力顯微鏡樣品臺(tái)上安裝電化學(xué)池,可以在納米尺度進(jìn)行電化學(xué)性能的研究。在電化學(xué)發(fā)生的同時(shí),進(jìn)行樣品表面的形貌測(cè)試。
電化學(xué)顯微鏡
1.安裝電化學(xué)池非常便捷。
2.開放的設(shè)計(jì),允許用戶進(jìn)行改變。
3.電化學(xué)池的設(shè)計(jì),可以用于很寬范圍樣品的測(cè)試,包括不同樣品的厚度,形狀??梢耘浼訜崤_(tái)和冷卻臺(tái)。
4.可以用絕緣的介質(zhì)防止電解液被污染。
5.樣品跟壓電陶瓷掃描管分離,避免掃描器損壞。
6.很寬的電極類型。
7.高分辨率(可以達(dá)到原子級(jí)別)。
可用于研究導(dǎo)體和絕緣體基底表面的幾何形貌;固/液、液/液界面的氧化還原活性;分辨不均勻電極表面的電化學(xué)活性;研究微區(qū)電化學(xué)動(dòng)力學(xué)、研究生物過程及對(duì)材料進(jìn)行微加工。