采用*的微打孔懸臂近場針尖獲得低于衍射極限的光學(xué)分辨率；模塊化，可與共焦拉曼、原子力顯微鏡集合在一臺儀器，通過物鏡轉(zhuǎn)輪在不同的模式之間轉(zhuǎn)換，無需轉(zhuǎn)移或接觸樣品；懸臂采用遠程控制的完善的光束偏轉(zhuǎn)原理，在其頂端設(shè)有空心棱錐體光圈，大小為100納米（可選），能同時獲取地形和光學(xué)圖像；在分辨率，傳輸性，便于操作和穩(wěn)定性上顯著勝過標(biāo)準光纖探頭。

Alpha300-SNOM:近場光學(xué)顯微鏡

簡介

采用*的微打孔懸臂近場針尖獲得低于衍射極限的光學(xué)分辨率；模塊化，可與共焦拉曼、原子力顯微鏡集合在一臺儀器，通過物鏡轉(zhuǎn)輪在不同的模式之間轉(zhuǎn)換，無需轉(zhuǎn)移或接觸樣品；懸臂采用遠程控制的完善的光束偏轉(zhuǎn)原理，在其頂端設(shè)有空心棱錐體光圈，大小為100納米(可選)，能同時獲取地形和光學(xué)圖像；在分辨率，傳輸性，便于操作和穩(wěn)定性上顯著勝過標(biāo)準光纖探頭。

詳細說明：

以Zeiss顯微鏡為基礎(chǔ)的德國WITec Alpha300-SNOM近場光學(xué)顯微鏡，近場激發(fā)光路為正置共焦顯微鏡加特殊設(shè)計的近場物鏡頭，采用懸臂梁近場光學(xué)針尖，近場光激發(fā)強度高于光纖針尖2-3個數(shù)量級，很大程度改善了近場光學(xué)顯微鏡信號過弱的問題，堅固的近場針尖加柔韌的懸臂梁，經(jīng)典的原子力顯微鏡反饋模式，帶來逼近和測量時的優(yōu)異的安全性和穩(wěn)定性； AlphaSNOM集中而且不相互干擾地提供了共焦光學(xué)、近場光學(xué)、原子力三種顯微測試模式，各取三種顯微模式之所長，相互比較，相互驗證。

 

表面等離子波近場成像

 

傳統(tǒng)光纖近場針尖的一些問題：

1）光耦合效率不高，直接影響近場信號強度
2）拉光纖無法保證重復(fù)性
3）光纖尖很容易被破壞
Witec的懸臂梁式近場針尖：

1）光耦合效率比光纖近場針尖高2-3數(shù)量級，很大程度上改善了近場信號過弱的問題

2）近場針尖堅固，懸臂梁柔韌，甚至在有外力碰撞下也不會破壞

3）制造針尖重復(fù)性好

4）采用原子力顯微鏡的反饋模式，精確且穩(wěn)定

用戶可以在不移動樣品的情況下方便地切換近場，共焦、原子力顯微鏡模式

 

                    

WITec的模塊化軟件智能化控制綜合系統(tǒng)的所有功能，使數(shù)據(jù)完整和完成圖像后處理。

品牌：德國 WItec

型號：alpha300 S

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