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[供應]X射線膜厚儀,韓國先鋒鍍層測厚儀,韓國X光機,韓國X光金屬鍍層測厚
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  • X射線膜厚儀,韓國先鋒鍍層測厚儀,韓國X光機,韓國X光金屬鍍層測厚
貨物所在地：
江蘇蘇州市
更新時間：
2020-01-13 21:00:07
有效期：
2020年1月13日 -- 2020年7月13日
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159
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（聯(lián)系我們，請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息，謝謝?。?/p>

產(chǎn)品簡介

Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

詳細介紹

 Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...


 

其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、可自行設計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個準直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破壞性測厚儀器的*機型。


 

可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.04-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,操作非常方便簡單
可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92 

 

本公司還供應上述產(chǎn)品的同類產(chǎn)品：韓國MicroPioneer測厚儀,韓國膜厚儀代理商,韓國測厚儀

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