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納米顆粒分析儀性能多,應(yīng)用更廣泛

閱讀:328      發(fā)布時(shí)間:2020-10-21
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  納米顆粒分析儀廣泛應(yīng)用于各類(lèi)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室。該儀器基于傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡,搭配激光光源,可以檢視0.3 ml樣品中的納米級(jí)顆粒,并采用了近乎的黑色背景,可使布朗運(yùn)動(dòng)下的粒子觀測(cè)和分析更為方便。
 
  納米顆粒軌跡分析圖像軟件套裝可使用戶(hù)對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行自動(dòng)地軌跡和尺寸分析,結(jié)果可顯示為分布圖或數(shù)據(jù)表的形式,既可提供直接實(shí)時(shí)的納米顆粒檢視,也可給出全面的顆粒粒徑分布分析。除此之外,還可以拍攝視頻供進(jìn)一步研究參考。
 
  納米顆粒分析儀性能特點(diǎn):
 
  先進(jìn)的測(cè)試原理 該儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理,其測(cè)試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點(diǎn),從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性;
 
  高靈敏度與信噪比  探測(cè)器采用HAMAMATSU光電倍增管(PMT),其具有*的靈敏度和信噪比,從而保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度;
 
  超高速數(shù)據(jù)采集 核心部件采用數(shù)字相關(guān)器,它實(shí)時(shí)完成動(dòng)態(tài)散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算,從而有效地反映不同大小顆粒的動(dòng)態(tài)光散射信息,為測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ);
 
  穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng),使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小,而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力,從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性;
 
  高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導(dǎo)體溫控技術(shù),溫控精度高達(dá)±0.2℃,使樣品在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中始終處于恒溫狀態(tài),避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)速度變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性。
 
  應(yīng)用領(lǐng)域:
 
  該儀器可被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳納米材料、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和CMP等各種納米級(jí)、亞微米級(jí)粒子粒徑檢測(cè),以及膠體、乳液等的Zeta電位分析。
 

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