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分享氣溶膠顆粒光學(xué)分析儀在使用前所需要了解的知識(shí)點(diǎn)

閱讀:154      發(fā)布時(shí)間:2022-8-28
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  氣溶膠顆粒光學(xué)分析儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器,它是采用雙波長(zhǎng)激光光譜光學(xué)技術(shù)的氣溶膠光學(xué)粒徑譜儀和氣溶膠光譜儀,測(cè)量氣溶膠顆粒粒徑分布用于氣溶膠顆粒濃度測(cè)量,氣溶膠顆粒光學(xué)吸收和氣溶膠顆粒折射率等參數(shù),幫助科學(xué)家確定氣溶膠污染來源。目前,氣溶膠顆粒光學(xué)分析儀可應(yīng)用于氣溶膠分析、氣溶膠來源確認(rèn)、污染來源確認(rèn)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、健康醫(yī)療、科學(xué)研究等。
 

 

  使用知識(shí)點(diǎn):
  氣溶膠顆粒進(jìn)入氣溶膠顆粒光學(xué)分析儀后,先經(jīng)過預(yù)處理,再通過單極電暈荷電技術(shù)給顆粒荷電,并運(yùn)用并行DMA技術(shù),荷電粒子經(jīng)過電場(chǎng)后到達(dá)不同的檢測(cè)靜電計(jì),通過靜電計(jì)的信號(hào)來檢測(cè)氣溶膠粒子的濃度大小。在D-DMA測(cè)試粒徑中,荷電技術(shù)主要運(yùn)用擴(kuò)散荷電,能夠測(cè)量的粒徑范圍為3~500nm;而E-DMA,荷電技術(shù)主要運(yùn)用場(chǎng)致荷電,能夠測(cè)量的粒徑范圍為300~10000nm。
  由于氣溶膠顆粒光學(xué)分析儀采用精密電子元件制作,電路中的電子元件都有一個(gè)關(guān)鍵的技術(shù)參數(shù),元件通電工作時(shí)會(huì)隨著時(shí)間的延長(zhǎng)而產(chǎn)生溫度變化,溫度的變化所產(chǎn)生的技術(shù)參數(shù)變化的誤差越小越好。所以,在使用前需要通電預(yù)熱。而言,用戶在頭一次的開機(jī)過程中,關(guān)機(jī)超過半小時(shí)再重復(fù)開機(jī)時(shí)需要進(jìn)行預(yù)熱處理。在產(chǎn)品的主菜單界面,操作人員應(yīng)用鼠標(biāo)左鍵單擊“設(shè)置”,屏幕上彈出“設(shè)置”子菜單,在該欄上輸入:樣品名稱、測(cè)試人等項(xiàng)內(nèi)容,才能確保設(shè)備的正常運(yùn)行和責(zé)任人。
  樣品準(zhǔn)備是指從待測(cè)的粉體材料中有代表性地取出適當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)作測(cè)量樣品,選取適當(dāng)?shù)膽腋∫汉头稚?,將樣品與懸浮液混合,并讓樣品顆粒在懸浮液中充分分散,而又不與懸浮液和分散劑發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的過程。
 
  軟件的特點(diǎn)是:
  顆粒濃度,真實(shí)和預(yù)測(cè)的粒徑分布和折射率分布能夠?qū)崟r(shí)顯示,軟件可以把采集數(shù)據(jù)存入到數(shù)據(jù)庫(kù)中,從而滿足客戶連采集分析實(shí)驗(yàn)需要。氣溶膠顆粒光學(xué)分析儀軟件還能3D顯示顆粒濃度,更為直觀地顯示粒徑和濃度分布。
 
  特點(diǎn):
  1.識(shí)別氣溶膠;
  2.多種應(yīng)用;
  3.確定氣溶膠污染來源;
  4.可以便攜式使用分析;
  5.寬廣的顆粒物濃度測(cè)量能力;
  6.超短的采樣時(shí)間,具有高時(shí)間分辨率測(cè)量能力;
  7.同時(shí)測(cè)量4個(gè)氣溶膠顆粒參數(shù):濃度,粒徑分布,折射率和光學(xué)吸收。

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